[發明專利]實時電子測序

有效

• 申請號: 201480038761.4
• 申請日: 2014-05-05
• 公開（公告）號: CN105378113B
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: S·特納;J·哈尼斯;K·比約森
• 申請（專利權）人: 加利福尼亞太平洋生物科學股份有限公司
• 主分類號: C12Q1/6869
• 分類號: C12Q1/6869
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 余穎;陶啟長

1.一種用于核酸測序的方法，所述方法包括：

提供包含納米FET的陣列的基材，各納米FET包含源、漏區和柵，多個納米FET包含含有聚合酶和模板核酸的單個聚合酶復合物，所述復合物與所述納米FET的柵接合或與靠近所述納米FET的柵的基材接合；

提供多種類型的核苷酸類似物，各類型的核苷酸類似物包含通過接頭與核苷酸類似物的磷酸部分接合的電導標記物，其中各類型的核苷酸類似物具有不同接頭，并且各不同接頭經選擇以使各類型的核苷酸類似物表現出不同的電流振蕩頻率特性；

使所述基材接觸多種類型的核苷酸類似物，接觸條件為發生聚合酶介導的核酸合成，導致切割所述電導標記物和新生核酸鏈的生長；

在所述源和漏區之間施加電壓，當所述核苷酸類似物位于所述酶的活性位點中時，所述核苷酸類似物上的電導標記物產生柵的電導的可測量變化；

隨時間監測所述納米FET處的電信號，所述電信號表示核苷酸類似物的摻入事件，其中所述電信號包括測量電流振蕩頻率，其中所述核苷酸類似物與所述聚合酶相關聯時，所述核苷酸類似物的電流振蕩頻率特征用于鑒定摻入的核苷酸的類型；以及

使用所述監測的電信號確定所述模板核酸的序列，

其中，所述方法不需要核苷酸或核苷酸類似物上標記物的還原或氧化。

2.如權利要求1所述的方法，其中，用于確定所述模板核酸序列的監測的電信號還包括信號的持續時間，其表示核苷酸類似物在聚合酶的活性位點中的停留時間。

3.如權利要求1所述的方法，各納米FET的柵包含納米線。

4.如權利要求1所述的方法，各納米FET的柵包含摻雜硅。

5.如權利要求1所述的方法，其中，跨所述源和漏區的電壓是DC。

6.如權利要求1所述的方法，其中，跨所述源和漏區的電壓是AC，且所述AC電壓的頻率隨時間變化。

7.如權利要求1所述的方法，所述多種類型的核苷酸類似物包括對應于A、G、C、T或A、G、C、U的四種類型的核苷酸類似物。

8.如權利要求1所述的方法，所述納米FET的柵包含碳納米管。

9.如權利要求1所述的方法，所述納米FET的柵包含單壁碳納米管。

10.如權利要求7所述的方法，所述電導標志物包括納米顆粒。

11.如權利要求10所述的方法，所述納米顆粒的尺寸為2nm至50nm。

12.如權利要求1所述的方法，所述基材接觸對應于A、G、C、T或A、G、C、U的四種類型的核苷酸類似物，所述四種類型的核苷酸類似物各自具有不同長度的接頭。

13.如權利要求7所述的方法，其中所述類型的核苷酸類似物中的一些具有不同電導標記物類型。

14.如權利要求13所述的方法，其中所述類型的核苷酸類似物包括至少一個正電荷電導標記物和至少一個負電荷電導標記物。

15.如權利要求1所述的方法，所述接頭包括聚乙二醇。