[發明專利]超聲成像設備及其控制方法有效
| 申請號: | 201480038568.0 | 申請日: | 2014-07-04 |
| 公開(公告)號: | CN105359191B | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 高永仁;李喜世 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G06T17/10 | 分類號: | G06T17/10;A61B8/00 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286 | 代理人: | 曾世驍;蘇銀虹 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超聲 成像 設備 及其 控制 方法 | ||
1.一種超聲成像設備,包括:
超聲采集器,被配置為采集來自對象的超聲波;
體數據產生器,被配置為基于所述超聲波來產生體數據;
圖像處理器,被配置為參照紋理圖像對體數據執行體繪制,
其中,對象的半透明特性和多層組織被反映到紋理圖像的每個紋素,
其中,紋理圖像的一個軸被配置為表示距離光源面向的對象的表面的深度,紋理圖像的另一個軸被配置為表示相對于視點距離對象的表面的深度,
其中,圖像處理器被配置為進行體數據采樣并使用通過對體數據進行采樣而獲得的樣本的位置來計算從對象的表面到所述樣本的距離。
2.如權利要求1所述的超聲成像設備,其中,圖像處理器包括:計算器,被配置為從紋理圖像檢測與通過對體數據進行采樣而獲得的樣本相應的紋素。
3.如權利要求2所述的超聲成像設備,其中,每個已反映了對象的半透明特性的紋素具有根據相對于光源距離對象的表面的深度而變化的亮度值。
4.如權利要求3所述的超聲成像設備,其中,計算器通過計算相對于光源的從對象的表面到所述樣本的距離來檢測已反映了對象的半透明特性的紋素。
5.如權利要求2所述的超聲成像設備,其中,每個已反映了對象的多層組織的紋素具有根據相對于視點距離對象的表面的深度而變化的顏色值。
6.如權利要求5所述的超聲成像設備,其中,計算器通過計算相對于視點的從對象的表面到所述樣本的距離來檢測已反映了對象的多層組織的紋素。
7.一種超聲成像設備,包括:
超聲采集器,被配置為采集來自對象的超聲波;
體數據產生器,被配置為基于所述超聲波來產生體數據;
圖像處理器,被配置為參照紋理圖像對體數據執行體繪制;
其中,對象的半透明特性被反映到紋理圖像的每個紋素,
其中,紋理圖像的一個軸被配置為表示距離光源面向的對象的表面的深度,
其中,圖像處理器被配置為進行體數據采樣并使用通過對體數據進行采樣而獲得的樣本的位置來計算從對象的表面到所述樣本的距離。
8.一種超聲成像設備,包括:
超聲采集器,被配置為采集來自對象的超聲波;
體數據產生器,被配置為基于所述超聲波來產生體數據;
圖像處理器,被配置為參照紋理圖像對體數據執行體繪制;
其中,對象的多層組織被反映到紋理圖像的每個紋素,
其中,紋理圖像的一個軸被配置為表示相對于視點距離對象的表面的深度,
其中,圖像處理器被配置為進行體數據采樣并使用通過對體數據進行采樣而獲得的樣本的位置來計算從對象的表面到所述樣本的距離。
9.一種超聲成像設備的控制方法,包括:
采集來自對象的超聲波;
基于所述超聲波來產生體數據;
參照紋理圖像對體數據執行體繪制,
其中,對象的半透明特性和多層組織被反映到紋理圖像的每個紋素,
其中,紋理圖像的一個軸被配置為表示距離光源面向的對象的表面的深度,紋理圖像的另一個軸被配置為表示相對于視點距離對象的表面的深度,
其中,執行體繪制的步驟包括:進行體數據采樣并使用通過對體數據進行采樣而獲得的樣本的位置來計算從對象的表面到所述樣本的距離。
10.如權利要求9所述的控制方法,其中,執行體繪制的步驟包括:從紋理圖像檢測與通過對體數據進行采樣而獲得的樣本相應的紋素。
11.如權利要求10所述的控制方法,其中,每個已反映了對象的半透明特性的紋素具有根據相對于光源距離對象的表面的深度而變化的亮度值。
12.如權利要求11所述的控制方法,其中,檢測紋素的步驟包括:通過計算相對于光源的從對象的表面到所述樣本的距離來檢測已反映了對象的半透明特性的紋素。
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