[發明專利]用于對用于以生成方式制造三維物體的設備進行自動校準的方法

有效

• 申請號: 201480037551.3
• 申請日: 2014-05-08
• 公開（公告）號: CN105358310B
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: H·佩雷特;J·菲利皮
• 申請（專利權）人: EOS有限公司電鍍光纖系統
• 主分類號: B29C64/153
• 分類號: B29C64/153;B29C64/393;B33Y50/02;G05B19/401;B22F3/105
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 閆娜

1.用于對用于以生成方式制造三維物體(8)的設備進行自動校準的方法，所述設備包括：

建構區(2)，在該建構區中能通過選擇性地固化粉末狀材料(3)逐層地建構物體(8)，

輻射裝置(9)，該輻射裝置用于將電磁輻射(20、21)發射到涂覆的材料(3)層的所選區域上，該輻射裝置(9)具有至少一個第一掃描器(14)和至少一個第二掃描器(15)，并且所述第一掃描器(14)輻射建構區(2)中的第一掃描區(30)并且所述第二掃描器(15)輻射建構區(2)中的第二掃描區(31)；和

控制單元(7)，該控制單元用于控制所述設備，

其特征在于下述步驟：

通過第一掃描器(14)輻射涂覆的材料(3)層或輻射目標物，以便在材料(3)或目標物中制出第一測試圖案(33)；

通過第二掃描器(15)輻射涂覆的材料(3)層或輻射目標物，以便在材料(3)或目標物中制出第二測試圖案(34)；

通過照相機(24)檢測第一和第二測試圖案(33、34)并且將第一和第二測試圖案(33、34)分別配置給第一和第二掃描器(14、15)；

將第一和第二測試圖案(33、34)互相進行比較；

確定第一測試圖案(33)和第二測試圖案(34)之間的相對偏差；

校準第一和/或第二掃描器(14、15)，使得第一測試圖案(33)與第二測試圖案(34)之間的相對偏差低于設定值。

2.根據權利要求1的方法，其中，第一和第二掃描區(30、31)在建構區(2)的重疊區域(37)中相互重疊。

3.根據權利要求2的方法，其中，在重疊區域(37)中成對地制出第一和第二測試圖案(33、34)。

4.根據權利要求2的方法，其中，所述第一測試圖案(33)比第二測試圖案(34)更靠近第二掃描器(15)。

5.根據權利要求1的方法，其中，所述第一和/或第二測試圖案(33、34)是網格圖案或點陣圖案。

6.根據權利要求1的方法，其中，所述第一和第二測試圖案(33、34)總是具有形狀相同的局部圖案。

7.根據權利要求1的方法，其中，所述校準包含第一和/或第二掃描器(14、15)的電磁輻射(20、21)的偏移、旋轉、縮放或者強度或焦點形狀的調整。

8.根據權利要求1的方法，其中，借助自相關算法或匹配法實施校準。

9.根據權利要求1的方法，其中，在制造三維物體(8)期間實施校準。

10.根據權利要求1的方法，其中，所述粉末狀材料(3)是金屬粉末。

11.根據權利要求1的方法，其中，所述粉末狀材料(3)是塑料粉末。

12.用于以生成方式制造三維物體(8)的設備，該設備包括：

容器(1)，在該容器的上邊緣上限定建構區(2)，在該建構區中通過選擇性地固化粉末狀材料(3)能逐層地建構物體(8)，

輻射裝置(9)，該輻射裝置用于將電磁輻射(20、21)發射到涂覆的材料(3)層的所選區域上，該輻射裝置(9)具有至少一個第一掃描器(14)和至少一個第二掃描器(15)，并且第一掃描器(14)輻射建構區(2)中的第一掃描區(30)并且第二掃描器(15)輻射建構區(2)中的第二掃描區(31)，

其特征在于，

設有用于檢測建構區(2)的照相機(24)；和

設有控制單元(7)，該控制單元(7)

促使第一掃描器(14)輻射涂覆的材料(3)層或輻射目標物，以便在材料(3)或目標物中制出第一測試圖案(33)；

促使第二掃描器(15)輻射涂覆的材料(3)層或輻射目標物，以便在材料(3)或目標物中制出第二測試圖案(34)；

促使照相機(24)檢測第一和第二測試圖案(33、34)；

將第一和第二測試圖案(33、34)配置給第一和第二掃描器(14、15)；

將第一和第二測試圖案(33、34)互相進行比較；

確定第一測試圖案(33)和第二測試圖案(34)之間的相對偏差；并且

校準第一和/或第二掃描器(14、15)，使得第一測試圖案(33)與第二測試圖案(34)之間的相對偏差低于設定值。