[發明專利]多個有源天線的通道聯合校正方法及裝置

有效

• 申請號: 201480037007.9
• 申請日: 2014-06-06
• 公開（公告）號: CN105379014B
• 公開（公告）日: 2018-04-10
• 發明（設計）人: 蔣亞軍
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H01Q3/26
• 分類號: H01Q3/26
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司11138
• 代理人: 張耀光

1.一種多個有源天線的通道聯合校正裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一校正模塊，用于對串聯的至少兩個有源天線包括的有源天線組進行通道校正，得到每個有源天線對應的校正信息，所述有源天線組包括所述至少兩個有源天線中相鄰的兩個有源天線，每個有源天線對應的校正信息均包括上行校正信息和下行校正信息；

修正模塊，包括：

第一修正單元，用于將所述每個有源天線對應的校正信息中的上行校正信息進行統一修正，得到所述每個有源天線對應的上行修正信息；以及第二修正單元，用于將所述每個有源天線對應的校正信息中的下行校正信息進行統一修正，得到所述每個有源天線對應的下行修正信息；

第二校正模塊，用于根據所述每個有源天線對應的修正信息，分別對所述每個有源天線的被校正通道進行校正。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一校正模塊包括：

作為單元，用于對串聯的至少兩個有源天線包括的有源天線組中的任一有源天線組，將所述有源天線組中的一個有源天線作為第一有源天線，將另一個有源天線作為第二有源天線；

第一校正單元，用于對所述第一有源天線的被校正上行通道和所述第二有源天線的被校正上行通道進行通道校正，得到第一上行校正信息和第二上行校正信息，所述第一上行校正信息為所述第一有源天線對應的上行校正信息，所述第二上行校正信息為所述第二有源天線對應的上行校正信息；和/或

第二校正單元，用于對所述第一有源天線的被校正下行通道和所述第二有源天線的被校正下行通道進行通道校正，得到第一下行校正信息和第二下行校正信息，所述第一下行校正信息為所述第一有源天線對應的下行校正信息，所述第二下行校正信息為所述第二有源天線對應的下行校正信息。

3.如權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述第一校正單元包括：

第一注入子單元，用于在第一上行支路上注入第一校正注入信號，得到第一校正環回信號，以及在第二上行支路上注入第二校正注入信號，得到第二校正環回信號，所述第一上行支路和所述第二上行支路均包括所述第一有源天線的被校正上行通道，且所述第一校正注入信號和所述第二校正注入信號同幅同相；

第二注入子單元，用于在第三上行支路上注入所述第一校正注入信號，得到第三校正環回信號，以及在第四上行支路上注入所述第二校正注入信號，得到第四校正環回信號，所述第三上行支路和所述第四上行支路均包括所述第二有源天線的被校正上行通道；

第三注入子單元，用于在第五上行支路上注入所述第二校正注入信號，得到第五校正環回信號，所述第五上行支路包括所述第一有源天線的被校正上行通道；

第一計算子單元，用于根據所述第一校正環回信號、所述第二校正環回信號、所述第三校正環回信號、所述第四校正環回信號和所述第五校正環回信號，計算第一上行校正信息和第二上行校正信息。

4.如權利要求3所述的裝置，其特征在于，

所述第一計算子單元，具體用于：

計算所述第一校正環回信號與所述第二校正環回信號之間的第一比值；

計算所述第三校正環回信號與所述第四校正環回信號之間的第二比值；

根據所述第四校正環回信號、所述第五校正環回信號、所述第一比值和所述第二比值，計算第一上行校正信息和第二上行校正信息。

5.如權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述第二校正單元包括：

第四注入子單元，用于在第一下行支路上注入第三校正注入信號，得到第六校正環回信號，以及在第二下行支路上注入所述第三校正注入信號，得到第七校正環回信號，所述第一下行支路和所述第二下行支路均包括所述第一有源天線的被校正下行通道；

第五注入子單元，用于在第三下行支路上注入第四校正注入信號，得到第八校正環回信號，以及在第四下行支路上注入所述第四校正注入信號，得到第九校正環回信號，所述第三下行支路和所述第四下行支路均包括所述第二有源天線的被校正下行通道，且所述第三校正注入信號和所述第四校正注入信號同幅同相；

第六注入子單元，用于在第五下行支路上注入所述第三校正注入信號，得到第十校正環回信號，所述第五下行支路包括所述第一有源天線的被校正下行通道；

第二計算子單元，用于根據所述第六校正環回信號、所述第七校正環回信號、所述第八校正環回信號、所述第九校正環回信號和所述第十校正環回信號，計算第一下行校正信息和第二下行校正信息。