[發明專利]光插座、套管及插頭套管

有效

• 申請號: 201480035647.6
• 申請日: 2014-06-27
• 公開（公告）號: CN105324695B
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發明（設計）人: 近藤祥;我妻弘嗣;箱崎悟史;兼行哲史
• 申請（專利權）人: TOTO株式會社
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G02B6/38
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司11290
• 代理人: 周善來,王玉玲

技術領域

本發明的形態一般涉及光插座、套管及插頭套管。

背景技術

在光通信用收發器的光模塊中，光插座作為用于光學連接光纖連接器與受光元件、發光元件等光學元件的元件而被使用(例如參照專利文獻1)。另外，在光通信中，存在有不使用光插座，而介由適配器來相互連接多個光纖連接器的情況。

光插座的基本特性為如上所述對光學元件和光纖連接器進行光學連接，但其中尤以下述的損失構成了1個重要的特性，即，因在插入于光插座的光纖連接器上作用有橫向負荷，而在光插座內的短光纖插芯和光纖連接器內的插頭套管的中心軸上產生偏移，由此導致的一般被稱為擺動(Wiggle)損失的損失。

另外，通常在最初將插頭套管插入于包含光插座的光模塊時，為了避免構成連接時的損失、使光纖受傷的外觀上的問題，而進行有對光插座及插頭套管的相互連接的端面的清掃。

在此，作為光插座的與插頭套管連接的端面的清掃方法，通常已知有如專利文獻2所述的用布狀的物品擦去端面的異物的方法、及利用吹氣來吹走異物的方法，但由于該端面處于從光插座的頂端部起深處的位置上，因此難以從該端面完全去除異物，而是僅使其移動到在插頭套管連接時光學影響少的外周部。

因此，在現有的光插座中，存在有下述課題，即，在對插頭套管進行反復插拔的過程中，處于光插座內的短光纖插芯的外周部的異物向中心部移動，導致產生有連接時的損失。該問題即使在介由適配器來相互連接多個光纖連接器的情況下也會產生。即，存在有下述課題，即，在將其中一側的插頭套管反復插拔于適配器的過程中，處于適配器內的另一側的插頭套管的外周部的異物向中心部移動，從而在對其中一側的插頭套管和另一側的插頭套管進行連接時導致產生有損失。

在使用光插座的情況下，為了解決上述的課題，考慮了下述的結構，即，為了防止在將插頭套管反復插拔于光插座的過程中外周部的異物向短光纖插芯的中央部移動，而在短光纖插芯的頂端部上設置了級差(例如參照專利文獻3)。

然而，雖然在專利文獻3所記載的結構中可得到上述的效果，但存在有下述這樣的課題，即，因光插座內的套筒對短光纖插芯進行保持的長度變短，而導致上述的擺動(Wiggle)損失變大。

專利文獻1：日本特開2001-66468號公報

專利文獻2：日本特開2005-99451號公報

專利文獻3：日本專利第4570347號

發明內容

本發明的形態是為了解決上述問題而進行的，所要解決的技術問題是提供一種光插座，能夠在將插頭套管反復插拔于光插座或適配器時，防止因短光纖插芯外周部或插頭套管外周部的異物向短光纖插芯端面或插頭套管端面的中心部移動而導致產生損失，或能夠通過維持套筒對短光纖插芯進行保持的長度來降低擺動(Wiggle)損失。

根據本發明的一個形態，可提供一種光插座，具備：短光纖插芯，具有內包有用于導通光的光纖的套管；保持件，用于保持所述短光纖插芯；及套筒，用其中一端保持所述短光纖插芯的頂端，用另一端可保持插入于光插座的插頭套管，其特征在于，所述套管在所述套管的與所述插頭套管連接一側的研磨成凸球面狀的端面上具有異物移動抑制部，所述異物移動抑制部抑制因所述插頭套管的插拔而從所述套管的外周部朝向所述端面的中心部移動的異物的移動，所述異物移動抑制部具有設置于所述端面且相連成圓周狀的凹部，所述凹部的內面的算術平均粗糙度為0.8微米以上、3.2微米以下，所述凹部的內面的表面粗糙度比所述凹部以外的區域的表面粗糙度更大。

附圖說明

圖1是表示本發明的第1實施方式的光插座的模式剖視圖。

圖2(a)～圖2(d)是在本發明的第1實施方式中的短光纖插芯的研磨成凸球面的端面上形成的凹部的模式剖視圖。

圖3是表示本發明的第2實施方式的光插座中的短光纖插芯的與插頭套管連接的端面的模式圖。

圖4是在本發明的第3實施方式中的短光纖插芯端面上形成的凹部的模式剖視圖。

圖5是表示本發明的第4實施方式的表示短光纖插芯的與插頭套管連接一側的端面的狀態的模式圖。

圖6(a)及圖6(b)是表示本發明的第5實施方式的光插座的模式剖視圖。

圖7(a)及圖7(b)是表示本發明的第6實施方式的光插座的模式剖視圖。

圖8(a)及圖8(b)是表示本發明的第7實施方式的光插座的模式剖視圖。

圖9是表示介由套筒而相互連接有多個插頭套管的狀態的模式化剖視圖。

圖10(a)～圖10(d)是例示與本發明人所實施的表面粗糙度相關的研究的結果的一個例子的表。