[發明專利]用于優化眼鏡架的測量輪廓的方法

有效

• 申請號: 201480033339.X
• 申請日: 2014-06-13
• 公開（公告）號: CN105283799B
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發明（設計）人: F·穆拉道爾
• 申請（專利權）人: 埃西勒國際通用光學公司
• 主分類號: G02C7/02
• 分類號: G02C7/02;G02C13/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 杜文樹

技術領域

本發明涉及一種由計算機裝置實施的用于優化眼鏡架的測量輪廓的方法。

背景技術

對本發明的背景的討論包括于此以解釋本發明的上下文。這將不被認為是承認所引用的任何材料被公開、已知或者是權利要求書中的任一項權利要求的優先權日下的公共常識的一部分。

通常，需要佩戴眼鏡并因此具有眼科醫師開出的處方的人會去眼鏡師的處所選擇未來眼鏡的鏡架。眼鏡的未來佩戴者可以試戴若干眼鏡架并最終選擇試戴的眼鏡架之一。眼鏡師訂購與處方相對應的一副鏡片。發送給眼鏡師的鏡片是根據光學標準設計和制造的。

取決于鏡片制造商提供的服務，眼鏡師可能不得不切割這些鏡片以便適應人們已選擇的眼鏡架，或者在“遠程磨邊(remote edging)”服務的情況下，眼鏡師接收已經切割好的鏡片并只須將其裝配到眼鏡架中。

所選擇的眼鏡架的開口(例如，眼鏡片預期安裝在的眼鏡架的開口)的內圓周可以由測量裝置(例如，機械傳感器)非常精確地測量。更具體地，鏡架的開口包括一個內凹槽并且該凹槽的特點(與開口的傾斜角、凹槽的深度等)可以在測量室中由機械傳感器測量。

機械傳感器對所選擇的眼鏡架進行的測量使得能夠訂購一方面適合于所選擇眼鏡架、另一方面適合于佩戴者處方的眼鏡片。

根據在測量室中由機械傳感器執行的測量，眼鏡片的眼鏡師或提供商能夠：根據光學判據(例如，佩戴者處方)為佩戴者提供最佳的鏡片前表面；對鏡片磨邊和斜切以符合對所選擇的眼鏡架進行的測量。

在本發明的意義上，對鏡片進行切割的步驟稱為“磨邊”，而在鏡片的外邊緣上形成斜面的步驟稱為“斜切”。

鏡片提供商必須確保所提供的鏡片適配于佩戴者處方并且適配于所選擇的眼鏡架。

例如，鏡片提供商必須確保未來的鏡片能夠實際上適合可能具有特別開口和凹槽的已選鏡架。

因此，將要理解的是，對已選鏡架的內圓周開口進行測量和半成品鏡片的選擇對供應商而言是十分重要的。

機械傳感器提供成測量點列表形式的數據。使復雜表面與測量點列表相匹配可能導致復雜或不準確。因此，需要一種將眼鏡架的輪廓的測量點轉換成3D平滑輪廓的方法，該平滑輪廓可以作為光學鏡片的前光學表面通過一個復雜表面來安裝。

發明內容

本發明的目標是提供這樣一種方法。

根據本發明的第一方面，提供了一種由計算機裝置實施的用于優化眼鏡架的開口的測量輪廓的方法，該方法包括：

-輪廓數據提供步驟，在該步驟過程中，提供表示該眼鏡架的輪廓的測量點的輪廓數據，

-工作輪廓定義步驟，在該步驟過程中，定義該眼鏡架的工作輪廓，

-第一輪廓代價函數提供步驟，在該步驟過程中，提供第一輪廓代價函數，該第一輪廓代價函數是該工作輪廓的至少一部分的曲線的m階導數的函數，m是大于或等于2的整數，

-輪廓代價函數集提供步驟，在該步驟過程中，提供一個輪廓代價函數集，該輪廓代價函數集中的每個輪廓代價函數是至少該工作輪廓與該輪廓的這些測量點之間的偏差的函數，并且該輪廓代價函數集包括至少一個輪廓代價函數，

-全局輪廓代價函數求值步驟，在該步驟過程中，對一個全局輪廓代價函數進行求值，該全局輪廓代價函數是該第一輪廓代價函數的加權和和該輪廓代價函數集中的每個輪廓代價函數的加權和，

-輪廓修改步驟，在該步驟過程中，修改該工作輪廓，

其中，重復該全局輪廓代價函數求值步驟和該輪廓修改步驟以便使該全局輪廓代價函數最小化。

有利地，根據本發明的方法提供了眼鏡架的輪廓的平滑且精確的定義。

根據可以單獨或組合考慮的進一步的實施例：

-m小于或等于4；和/或

-該第一輪廓代價函數是整個工作輪廓的曲線的m階導數的函數；和/或

-在該全局輪廓代價函數中，該第一輪廓代價函數的權重表示在總權重的0.1％與10％之間；和/或

-該方法進一步包括一個最大偏差步驟，在該步驟過程中，定義輪廓的測量點與經優化的輪廓之間的最大偏差，并且在該全局輪廓代價函數求值步驟過程中，調整該第一代價函數的權重以便使這些測量點與該輪廓之間的偏差小于或等于該最大偏差。

該方法進一步涉及一種由計算機裝置實施的用于優化眼鏡片的至少一個光學表面的方法，該眼鏡片被適配成適合一個眼鏡架，該方法包括：

-初始光學表面提供步驟，在該步驟過程中，提供一個初始光學表面，