[發明專利]用于制造光學鏡片的方法和設備

有效

• 申請號: 201480030244.2
• 申請日: 2014-06-25
• 公開（公告）號: CN105263672B
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發明（設計）人: V·戈多
• 申請（專利權）人: 依視路國際公司
• 主分類號: B24B13/005
• 分類號: B24B13/005
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 陳華成

1.一種將非成品光學鏡片構件封阻在封阻器上以便從該非成品光學鏡片構件制造光學鏡片的方法，該非成品光學鏡片構件設置有具有第一參考系的成品表面，并且該封阻器具有第二參考系，該方法包括：

將該非成品光學鏡片放置在該封阻器上；

測量放置后的非成品光學鏡片構件的該成品表面的該第一參考系相對于該封阻器的該第二參考系的定位的相對定位；

將測量的相對定位與預定的相對定位進行比較以便確定相對定位偏移；

移動該封阻器和該鏡片構件中的至少一項以改變該第一參考系相對于該第二參考系的相對定位以便補償該相對定位偏移；并且

在該封阻器上以經改變的相對定位封阻該非成品光學鏡片。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，該封阻器配備有一個可移動部分，該可移動部分可操作用于移動該第二參考系，并且改變該第一參考系相對于該第二參考系的相對定位包括移動該可移動部分來移動該第二參考系。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中：

該光學鏡片構件的該成品表面配備有與該第一參考系相關聯的一個或多個可檢測的第一識別特征，并且該封阻器配備有與該第二參考系相關聯的一個或多個可檢測的第二識別特征；并且

所述確定該相對定位的步驟包括檢測該一個或多個可檢測的第一識別特征和該一個或多個可檢測的第二識別特征的位置。

4.根據以上任一項權利要求所述的方法，其中這些參考系之一根據以下定位參數中的至少一個定位參數相對于另一參考系移動：該參考系的中心點的偏心量Tx、該參考系的中心點的偏心量Ty；該參考系關于該鏡片構件的豎直z軸的取向Rz、關于該鏡片構件的水平x軸的取向Rx、以及關于該鏡片構件的水平y軸的取向Ry。

5.根據權利要求4所述的方法，其中這些參考系之一相對于另一個參考系沿豎直平移來移動，這樣使得這兩個參考系之間的相對定位參數ΔTz與一個預定的相對定位參數ΔTz_predet相對應。

6.根據權利要求4或5所述的方法，其中測量該相對定位包括借助于根據一個相機參考系定位的一個第一相機來測量這些定位參數Tx、Ty和Rz。

7.根據當從屬于權利要求5時的權利要求6所述的方法，其中測量該相對定位包括通過關于所述相機參考系定位的至少一個第二相機來測量這些定位參數Rx、Ry和/或T_z。

8.根據權利要求6或7所述的方法，包括關于所提供的相機參考特征將該第一相機和/或第二相機定位在該封阻器上。

9.根據權利要求5至8中任一項所述的方法，包括一個機加工工具定位步驟，在該步驟中，該機加工工具朝向該非成品表面的接近速度是基于這兩個參考系的該相對定位參數Tz來確定的。

10.根據以上任一項權利要求所述的方法，其中該預定的相對定位是基于包括增加度數據、棱鏡數據以及鏡片厚度數據中的至少一項的處方數據來確定的。

11.一種用于將非成品光學鏡片構件封阻以便從該非成品光學鏡片構件制造光學鏡片的設備，該非成品光學鏡片構件設置有具有第一參考系的成品表面，該設備包括：

封阻器，該封阻器具有第二參考系，在使用中將該非成品光學鏡片構件放置在該封阻器上；

測量裝置，該測量裝置用于測量放置后的非成品光學鏡片構件的該成品表面的該第一參考系相對于該封阻器的該第二參考系的定位的相對定位；

計算模塊，該計算模塊用于將測量的相對定位與預定的相對定位進行比較以確定相對定位偏移；以及

定位裝置，該定位裝置用于移動該封阻器和該鏡片構件中的至少一項以改變該第一參考系相對于該第二參考系的相對定位以便補償該相對定位偏移；其中該封阻器可操作用于以經改變的相對定位封阻該非成品光學鏡片構件。

12.根據權利要求11所述的設備，其中該封阻器包括一個可移動部分，該可移動部分通過該定位裝置是可移動的，以改變該相對定位。

13.根據權利要求12所述的設備，其中該可移動部分是根據定位參數Tx、Ty、Rz、Rx以及Ry中的至少一項而可移動的。