[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480029861.0 | 申請日: | 2014-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN105247666B | 公開(公告)日: | 2017-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 山崎浩次;荒木健 | 申請(專利權(quán))人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/52 | 分類號: | H01L21/52;B23K20/00;B23K35/14 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標(biāo)事務(wù)所11038 | 代理人: | 金春實 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法,特別涉及安裝半導(dǎo)體元件的安裝基板與半導(dǎo)體元件等的金屬接合、半導(dǎo)體元件和引線端等的金屬接合。
背景技術(shù)
近年來,針對半導(dǎo)體裝置的可靠性的要求逐漸提高,特別強烈要求提高針對熱膨脹系數(shù)差大的半導(dǎo)體元件和電路基板的接合部的可靠性。以往,在半導(dǎo)體元件中,大量使用以硅(Si)、砷化鎵(GaAs)為基體材料的例子,其動作溫度是100℃~125℃。作為將半導(dǎo)體元件接合到電子電路的電極的焊料材料,根據(jù)針對半導(dǎo)體元件與電路基板的熱膨脹之差所引起的反復(fù)熱應(yīng)力的抗裂性、用于應(yīng)對組裝時的多階段焊料接合的高熔點、進而器件的污染耐性等觀點,在Si器件中使用了95Pb-5Sn(質(zhì)量%),在砷化鎵器件中使用了80Au-20Sn(質(zhì)量%)等。但是,根據(jù)降低環(huán)境負荷的觀點,大量含有有害的鉛(Pb)的95Pb-5Sn存在問題,并且根據(jù)貴金屬的價格上漲、埋藏量等觀點,關(guān)于80Au-20Sn,強烈期望替代材料。
另一方面,根據(jù)節(jié)能的觀點,作為下一代器件,以碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)為基體材料的器件的開發(fā)蓬勃發(fā)展。這些根據(jù)降低電力損失的觀點,將其動作溫度設(shè)為175℃以上,將來還可以說達到300℃。
針對上述要求,需要熔點高而且耐熱性優(yōu)良的高溫焊料材料(高溫焊料合金)。這樣的焊料合金此前是熔融溫度為300℃前后的基于Pb的焊料合金。例如,有Pb-10Sn(質(zhì)量%)、Pb-5Sn(質(zhì)量%)、Pb-2Ag-8Sn(質(zhì)量%)、Pb-5Ag(質(zhì)量%)等,主要以Pb為主成分。Pb-10Sn的固相線溫度是268℃,其液相線溫度是302℃。Pb-5Sn的固相線溫度是307℃,其液相線溫度是313℃。Pb-2Ag-8Sn的固相線溫度是275℃,其液相線溫度是346℃。Pb-5Ag的固相線溫度是304℃,其液相線溫度是365℃。
但是,根據(jù)環(huán)境保護的觀點,最近,在整個錫焊技術(shù)中,要求代替Pb系焊料合金,而使用無Pb焊料合金。當(dāng)然,關(guān)于在以往的半導(dǎo)體裝置中使用了的上述那樣的Pb-Sn系高溫焊料,也要求使用無Pb焊料合金。
但是,關(guān)于無Pb焊料合金,此前提出了多種,但Sn是主成分,沒有固相線溫度是260℃以上的高溫焊料合金。例如,在固相線溫度(共晶溫度)是221℃的Sn-Ag系焊料合金中,如果增加Ag,則液相線溫度提高,但固相線溫度不提高。在固相線溫度227℃的Sn-Sb系焊料合金中,在為了提高固相線溫度,極端地增加了Sb的情況下,液相線溫度也極端地提高。另外,即使對它們添加其他元素,也無法改變這樣的特性。因此,以往,在無Pb焊料合金中,認為沒有即使在300℃下也不熔融的、可用作焊料的無Pb焊料合金。
因此,研究了未使用高溫焊料合金的接合技術(shù)。被作為未使用該高溫焊料合金的接合技術(shù)來研究的方法是指,使用熔融溫度比Sn為主成分的無鉛焊料更高的金屬間化合物來接合的方法。在其中,也特別期望是使用向Sn的擴散快、且在比較低的溫度下能夠形成金屬間化合物的Ag的通過Ag和Sn的金屬間化合物(Ag3Sn)接合的方法。
例如,在專利文獻1中,記載了無Pb且能夠用于溫度等級連接的高溫側(cè)的焊料連接的復(fù)合焊料。專利文獻1的復(fù)合焊料通過由Cu構(gòu)成的金屬網(wǎng)被2張焊料箔夾持壓接而得到的結(jié)構(gòu)來構(gòu)成,這樣,將金屬網(wǎng)和焊料箔重疊軋制,從而焊料箔的Sn進入到金屬網(wǎng)的間隙,在加熱之后,形成Cu和Sn的金屬間化合物(Cu3Sn、Cu6Sn5),實現(xiàn)高耐熱化。另外,在專利文獻1中,除了Cu以外,Ag網(wǎng)也同樣地是有力候補,在作為高熔點的金屬間化合物的Ag3Sn化合物中,能夠?qū)崿F(xiàn)即使在280℃下也不熔融的連結(jié)連接。同樣地,作為硬并且熔點低的合金系,Cu-Sn系(例如Cu6Sn5)也能夠同樣地應(yīng)對。
另外,在專利文獻2中,記載了用于接合芯片(半導(dǎo)體元件)和管芯的接合片。專利文獻2的接合片是將有槽加工的Ag片、Ag導(dǎo)線縱橫編織而得到的網(wǎng)格狀片,針對該Ag片的表面實施厚度0.3~2.0μm的Sn鍍層并進行加壓、加熱,從而在加熱時,從Ag片的芯逐漸通過溶解、擴散而供給Ag。因此,專利文獻2的接合片能夠?qū)⒆罱K地形成的Ag-Sn層的熔點提高到470℃以上,能夠做成耐熱性高的接合部,并且,有槽空間的Ag片柔軟并且吸收熱應(yīng)變,提高可靠性。
專利文獻1:日本特開2004-174522號公報(第0024段~0053段、第0069段、圖1、圖8)
專利文獻2:日本特開2012-004594號公報(第0058段~0060段、圖13、圖14)
發(fā)明內(nèi)容
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





