[發明專利]電解質濃度測量裝置以及使用該裝置的測量方法

有效

• 申請號: 201480024768.0
• 申請日: 2014-04-10
• 公開（公告）號: CN105164526B
• 公開（公告）日: 2018-12-28
• 發明（設計）人: 石毛悠;釜堀政男;岸岡淳史;小野哲義;三宅雅文
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N27/416
• 分類號: G01N27/416;G01N27/26
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;王立杰

1.一種電解質濃度測量裝置，其特征在于，具備：

多個離子選擇電極和一個參照電極；

試樣導入部，其向上述多個離子選擇電極和上述參照電極導入試樣液；

電位計測部，其測量上述多個離子選擇電極與上述參照電極之間的電壓；以及

電阻測量部，其使用上述多個離子選擇電極中的兩個來測量直流電阻，

上述兩個離子選擇電極中的一個是電阻低于上述離子選擇電極與上述參照電極之間的溶液電阻的離子選擇電極或者基于離子交換膜的離子選擇電極中的任一個。

2.根據權利要求1所述的電解質濃度測量裝置，其特征在于，

還具備測量部，該測量部兼作上述電位計測部的上述電壓的測量和上述電阻測量部的上述直流電阻的測量兩者。

3.根據權利要求2所述的電解質濃度測量裝置，其特征在于，

上述電阻測量部具備：

電阻，其被連接在上述多個離子選擇電極中的兩個之間；以及

切換部，其用于連接或者切斷上述電阻。

4.根據權利要求1所述的電解質濃度測量裝置，其特征在于，

上述電阻測量部使用上述離子選擇電極本身的電動勢來校正上述直流電阻。

5.根據權利要求1所述的電解質濃度測量裝置，其特征在于，

上述電位計測部測量上述多個離子選擇電極中的至少一個與上述參照電極之間的電動勢，

上述電阻測量部測量上述多個離子選擇電極中的兩個之間的電壓和電流，根據上述電動勢、上述電壓以及上述電流來求出上述兩個離子選擇電極的電阻值之和作為上述直流電阻。

6.根據權利要求3所述的電解質濃度測量裝置，其特征在于，

上述電位計測部測量上述多個離子選擇電極中的第一離子選擇電極與上述參照電極之間的第一電動勢、上述多個離子選擇電極中的第二離子選擇電極與上述參照電極之間的第二電動勢，

上述電位計測部在使用上述電阻連接了上述第一離子選擇電極與上述第二離子選擇電極的狀態下，測量上述第一離子選擇電極與上述參照電極之間的第三電動勢、上述第二離子選擇電極與上述參照電極之間的第四電動勢，

上述電阻測量部根據上述第一電動勢、上述第二電動勢、上述第三電動勢、上述第四電動勢以及上述電阻的電阻值來求出上述第一離子選擇電極的電阻值和上述第二離子選擇電極的電阻值。

7.一種電解質濃度測量裝置中的測量方法，在具備多個離子選擇電極和一個參照電極的上述電解質濃度測量裝置中測量上述多個離子選擇電極的直流電阻，該方法的特征在于，包括以下步驟：

測量上述多個離子選擇電極中的至少一個與上述參照電極之間的電動勢；

測量上述多個離子選擇電極中的兩個之間的電壓和電流；以及

根據上述電動勢、上述電壓以及上述電流求出上述兩個離子選擇電極的電阻值之和作為上述直流電阻，

上述兩個離子選擇電極中的一個是電阻低于上述離子選擇電極與上述參照電極之間的溶液電阻的離子選擇電極或者基于離子交換膜的離子選擇電極中的任一個。