[發明專利]放射線圖像檢測裝置

有效

• 申請號: 201480020443.5
• 申請日: 2014-01-24
• 公開（公告）號: CN105122084B
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 山本晃永;老川智博;鈴木裕樹;宮本祐一;櫻井直人
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00;G03B42/02;G21K4/00
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦;黃浩

1.一種放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

是檢測通過對記錄有放射線圖像的記錄介質照射激發光而自所述記錄介質放出的熒光光的放射線圖像檢測裝置，

包括：

光檢測元件，其檢測所述熒光光；及

棱鏡，其以位于朝向所述記錄介質的激發光的光路上且位于所述光檢測元件與所述記錄介質之間的方式配置，

所述棱鏡具有與所述記錄介質相對的第一面、及相對于所述第一面傾斜的第二面及第三面來作為表面，并且被配置為：自所述第二面入射的激發光在內部傳播并自所述第一面出射，且自所述第一面入射的來自所述記錄介質的反射光在內部傳播，并自所述第二面或所述第三面出射，

所述光檢測元件與所述棱鏡的所述表面中的與來自所述記錄介質的反射光出射的區域不同的區域相對地配置，

所述光檢測元件檢測在所述棱鏡內部傳播的所述熒光光。

2.如權利要求1所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述第三面為透過激發光的面，

所述棱鏡以自所述第一面入射的來自所述記錄介質的反射光自所述第三面出射的方式配置。

3.如權利要求1所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述第三面為反射激發光的面，

所述棱鏡以自所述第二面入射的激發光在所述第三面反射并自所述第一面出射，且自所述第一面入射的來自所述記錄介質的反射光自所述第二面出射的方式配置。

4.如權利要求1至3中任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件與所述第二面中的與激發光入射的區域不同的區域相對地配置。

5.如權利要求1至3中任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件與所述第三面中的與來自所述記錄介質的反射光出射的區域不同的區域相對地配置。

6.如權利要求4所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件與所述第三面中的與來自所述記錄介質的反射光出射的區域不同的區域相對地配置。

7.如權利要求1至3中任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述棱鏡具有與所述第一面相對的第四面來作為所述表面，

所述光檢測元件與所述第四面相對地配置。

8.如權利要求1至3中任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件將光電二極管陣列作為1個信道而具備多個所述信道，該光電二極管陣列包括：以蓋格模式動作的多個雪崩光電二極管；及猝滅電阻，其相對于各個所述雪崩光電二極管串聯連接。

9.如權利要求4所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件將光電二極管陣列作為1個信道而具備多個所述信道，該光電二極管陣列包括：以蓋格模式動作的多個雪崩光電二極管；及猝滅電阻，其相對于各個所述雪崩光電二極管串聯連接。

10.如權利要求5所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件將光電二極管陣列作為1個信道而具備多個所述信道，該光電二極管陣列包括：以蓋格模式動作的多個雪崩光電二極管；及猝滅電阻，其相對于各個所述雪崩光電二極管串聯連接。

11.如權利要求6所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件將光電二極管陣列作為1個信道而具備多個所述信道，該光電二極管陣列包括：以蓋格模式動作的多個雪崩光電二極管；及猝滅電阻，其相對于各個所述雪崩光電二極管串聯連接。

12.如權利要求7所述的放射線圖像檢測裝置，其特征在于，

所述光檢測元件將光電二極管陣列作為1個信道而具備多個所述信道，該光電二極管陣列包括：以蓋格模式動作的多個雪崩光電二極管；及猝滅電阻，其相對于各個所述雪崩光電二極管串聯連接。