[發明專利]透明基體的光學特性的評價方法、光學裝置

無效

• 申請號: 201480018254.4
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN105074507A
• 公開（公告）日: 2015-11-18
• 發明（設計）人: 妹尾具展;小林裕介;大神聰司
• 申請（專利權）人: 旭硝子株式會社
• 主分類號: G02B1/11
• 分類號: G02B1/11;G02F1/13
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 高培培;車文

1.一種透明基體的光學特性的評價方法，是配置在顯示裝置的顯示面側的具有第一及第二表面的透明基體的光學特性的評價方法，所述透明基體的光學特性的評價方法的特征在于，

使用透明基體的定量化了的析像度指標值及定量化了的反射像擴散性指標值這兩個指標值，來評價所述透明基體的光學特性。

2.根據權利要求1所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述定量化了的析像度指標值通過如下步驟得到：

從所述透明基體的所述第二表面側沿著與所述透明基體的厚度方向平行的方向照射第一光，使受光角度相對于所述透明基體的厚度方向在-90°～+90°的范圍內變化，測定從所述第一表面側透射的透射光的亮度并求出全部透射光的亮度的步驟；

求出所述透射光的亮度成為最大的角度(峰值角度)的步驟；及

根據以下的式(1)來推算析像度指標值T的步驟，

析像度指標值T＝

(全部透射光的亮度-峰值角度下的透射光的亮度)/(全部透射光的亮度)式(1)。

3.根據權利要求1或2所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述定量化了的反射像擴散性指標值通過如下步驟得到：

從所述透明基體的所述第一表面側沿著相對于所述透明基體的厚度方向成30°的方向照射第二光，使受光角度相對于所述透明基體的厚度方向在0°～+90°的范圍內變化，測定由所述第一表面反射的反射光的亮度的步驟；

求出所述反射光的亮度成為最大的角度(峰值角度)的步驟；及

根據以下的式(2)來推算反射像擴散性指標值D的步驟，

反射像擴散性指標值D＝

((峰值角度+1°下的亮度)+(峰值角度-1°下的亮度))/2

/(峰值角度下的亮度)式(2)。

4.根據權利要求2或3所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述析像度指標值及/或反射像擴散性指標值使用測角器來取得。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述顯示裝置是從由LCD裝置、OLED裝置、PDP裝置、電子書籍及平板型顯示裝置構成的組中選擇的一個裝置。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述透明基體由鈉鈣玻璃或鋁硅酸鹽玻璃構成。

7.根據權利要求6所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述透明基體的所述第一及第二表面中的至少一個面被進行化學強化處理。

8.根據權利要求1～7中任一項所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述透明基體的所述第一表面被進行防眩處理。

9.根據權利要求8所述的透明基體的光學特性的評價方法，其特征在于，

所述防眩處理通過對所述透明基體的所述第一表面應用從由磨砂處理、蝕刻處理、噴砂處理、研磨處理及硅涂層處理構成的組中選擇的至少一個處理方法來實施。