[發(fā)明專利]電池壽命推測方法及電池壽命推測裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201480017818.2
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN105102999A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設計）人: 森田朋和;星野昌幸
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36;H01M10/48;H02J7/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 戚宏梅;楊謙

1.一種電池壽命推測方法，具有如下步驟：

對二次電池，計算當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)，該當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)至少包含內(nèi)部電阻值；

保存使用條件數(shù)據(jù)和劣化特性圖，該使用條件數(shù)據(jù)包含推測期間中的溫度時間分布及電流值時間分布，該劣化特性圖表示相對于電池電壓和溫度而言的劣化常量的分布；和

基于所述當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)和使用條件數(shù)據(jù)，累計所述劣化特性圖中的電池電壓－溫度平面的停留時間，由此推測劣化量。

2.如權利要求1所述的電池壽命推測方法，其中，

針對所述內(nèi)部電阻值的增加，進行遞歸計算。

3.如權利要求1所述的電池壽命推測方法，其中，

將進行所述電池特性的推測的期間分割為多個區(qū)間，針對每個所述區(qū)間的使用條件數(shù)據(jù)，按照每個區(qū)間一邊更新所述電池特性一邊推測劣化量。

4.如權利要求1至3中任一項所述的電池壽命推測方法，其中，

所述劣化特性圖是根據(jù)電池內(nèi)的活性物質(zhì)的電位和溫度的劣化常量、對相對于電池電壓和溫度而言的劣化常量的行為進行了推算而得到的。

5.如權利要求1至4中任一項所述的電池壽命推測方法，其中，

在所述劣化特性圖中，確定劣化常量為一定值以上的電池電壓－溫度區(qū)域，根據(jù)所述使用條件數(shù)據(jù)，通過計算，將電池處于該區(qū)域的累計時間超過一定期間的期間作為剩余壽命來計算。

6.如權利要求1至4中任一項所述的電池壽命推測方法，其中，

在所述劣化特性圖中，確定劣化常量為一定值以上的電池電壓－溫度區(qū)域，根據(jù)所述使用條件數(shù)據(jù)，通過計算，將電池處于該區(qū)域的時間的比例超過一定值的期間作為剩余壽命來計算。

7.如權利要求1至4中任一項所述的電池壽命推測方法，其中，

作為達到各電池性能的下限為止的期間，計算剩余壽命。

8.如權利要求1至7中任一項所述的電池壽命推測方法，其中，

針對所述當前時刻的電池特性，計算能夠跨及規(guī)定期間來使用的使用條件。

9.一種電池壽命推測裝置，其中，具備：

推算部，對二次電池，計算當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)，該當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)至少包含內(nèi)部電阻值；

保存部，保存使用條件數(shù)據(jù)和劣化特性圖，該使用條件數(shù)據(jù)包含推測期間中的溫度時間分布及電流值時間分布，該劣化特性圖表示相對于電池電壓和溫度而言的劣化常量的分布；以及

運算部，基于所述當前時刻的電池特性數(shù)據(jù)和使用條件數(shù)據(jù)，對所述劣化特性圖中的電池電壓－溫度平面的停留時間進行累計，由此來推測劣化量。