[發明專利]在金屬化可變形襯底上的低力電觸頭

有效

• 申請號: 201480014313.0
• 申請日: 2014-03-12
• 公開（公告）號: CN105209893B
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: M.C.紹爾斯
• 申請（專利權）人: 豪夫邁·羅氏有限公司
• 主分類號: G01N27/327
• 分類號: G01N27/327
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李晨;譚祐祥

1.一種用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其包括：

電路板，所述電路板具有多個導電條；以及

連接器組件，所述連接器組件安裝在所述電路板的一側上，并且構造成接納在插入方向上移動至測試位置的測試條，所述連接器組件包括：

連接器組件主體；

金屬板，所述金屬板具有兩個或更多扣合連接器，所述兩個或更多扣合連接器大體垂直地從所述金屬板延伸并且朝向所述電路板延伸，其中所述金屬板經由所述扣合連接器緊固至所述連接器組件主體，并且與所述連接器組件主體協作地限定接納所述測試條的槽；以及

導體，所述導體具有：

導體接觸主體，所述導體接觸主體直接安裝至所述連接器組件主體；以及

觸頭臂，所述觸頭臂一體地連接至所述導體接觸主體并且完全在所述插入方向上自由延伸。

2.根據權利要求1所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其中，安裝至所述電路板的所述連接器組件限定電路板組件，并且所述電路板組件保持在測試裝置中。

3.根據權利要求2所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其還包括：

所述導體接觸主體的延伸部分；以及

所述電路板的導電條，其由所述導體接觸主體的所述延伸部分直接地接觸。

4.根據權利要求1所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其中，每個扣合連接器包括葉片部分，所述葉片部分具有槽，所述槽形成在葉片部分中并且當所述連接器組件主體緊固至扣合連接器時構造成接納從所述連接器組件主體向外延伸的齒。

5.根據權利要求4所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其中，所述金屬板包括成形的端部，所述端部相對于所述金屬板有角度地定向以使測試條對準。

6.根據權利要求4所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其還包括：

所述導體接觸主體的延伸部分；以及

所述連接器組件主體包括長形槽，所述延伸部分自由延伸通過所述長形槽。

7.根據權利要求1所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其還包括：

測試條，所述測試條用于接納生物流體的樣本，在所述測試條上形成有觸頭；以及

所述觸頭臂，所述觸頭臂對準以直接地接觸所述測試條的所述觸頭。

8.根據權利要求7所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其中，所述觸頭臂限定在所述測試條在所述插入方向上移動時沿著所述觸頭拖過的梁。

9.根據權利要求1所述的用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其中，所述導體具有倒圓表面，所述倒圓表面背離所述電路板并且由壓印工藝形成，從而最小化了導體與所述測試條接觸的表面面積。

10.一種用于測量在生物流體中所關注的分析物的系統，其包括：

測試條，所述測試條用于接納生物流體的樣本，在所述測試條上形成有多個觸頭；以及

測試裝置，所述測試裝置具有：

電路板，所述電路板具有多個導電條；以及

連接器組件，所述連接器組件固定至所述電路板并且在所述測試條在插入方向上移動至測試位置時接納所述測試條，所述連接器組件包括：

連接器組件主體；

金屬板，所述金屬板具有兩個或更多扣合連接器，所述兩個或更多扣合連接器大體垂直地從所述金屬板延伸并且朝向所述電路板延伸，其中所述金屬板經由所述扣合連接器緊固至所述連接器組件主體，并且與所述連接器組件主體協作地限定接納所述測試條的槽；以及

多個導體，所述多個導體的每個具有：

導體接觸主體，所述導體接觸主體固定地連接至所述連接器組件主體；以及

觸頭臂，所述觸頭臂一體連接至所述導體接觸主體并且完全在所述插入方向上自由延伸，所述觸頭臂首先在所述測試條的插入期間偏轉然后在測試條安裝位置與所述測試條的所述觸頭中的一個直接地接觸。