[發明專利]異物檢測裝置、異物檢測方法以及非接觸充電系統有效
| 申請號： | 201480008199.0 | 申請日： | 2014-02-18 |
| 公開（公告）號： | CN104981966B | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發明（設計）人： | 宮下功寬 | 申請（專利權）人： | 松下知識產權經營株式會社 |
| 主分類號： | G01V3/10 | 分類號： | G01V3/10;H02J7/00;H02J50/60 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 韓聰 |
| 地址： | 日本國*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 異物 檢測 裝置 方法 以及 接觸 充電 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種異物檢測裝置，具備：
檢測用線圈；
發送電路，其生成不平衡信號；
同軸電纜，其對所述發送電路生成的所述不平衡信號進行傳輸；
平衡不平衡變換電路，其將從所述同軸電纜輸入的所述不平衡信號變換為平衡信號，并將所述平衡信號輸出到所述檢測用線圈；
檢測電路，其根據從所述檢測用線圈反射的功率分量即反射功率的頻率特性的變化來檢測異物；和
收納送電線圈的送電線圈殼體，
所述檢測用線圈配置在所述送電線圈的上方并收納在所述送電線圈殼體中，
所述檢測用線圈被配置成所述送電線圈殼體的表面與所述檢測用線圈之間的距離比所述送電線圈與所述檢測用線圈之間的距離短。
2.根據權利要求1所述的異物檢測裝置，其中，
所述檢測電路根據所述反射功率的匹配頻率的變化量來檢測異物。
3.根據權利要求1所述的異物檢測裝置，其中，
所述檢測電路在所述反射功率的匹配頻率高于基準匹配頻率的情況下檢測為異物是金屬，在所述反射功率的匹配頻率低于基準匹配頻率的情況下檢測為異物是水。
4.根據權利要求1所述的異物檢測裝置，其中，
所述檢測用線圈由多個線圈構成，
所述異物檢測裝置還具備短路電路，該短路電路將所述檢測用線圈中未被選擇的線圈的兩端子短路。
5.一種非接觸充電系統，具備：
權利要求1～4中任意1項所述的異物檢測裝置；
送電線圈；和
高頻振蕩源，其向所述送電線圈供給給定頻率的高頻功率。
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