[發(fā)明專利]矩陣測(cè)試標(biāo)板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201480006596.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104969124B | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 大衛(wèi)·沃爾特·萊溫內(nèi)克;埃里克·L·特呂本巴赫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 泰拉丁公司 |
| 主分類號(hào): | G03B43/00 | 分類號(hào): | G03B43/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 戚傳江;金潔 |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 矩陣 測(cè)試 | ||
1.一種用于測(cè)試相機(jī)模塊的系統(tǒng),包括:
結(jié)構(gòu),所述結(jié)構(gòu)用于保持待測(cè)相機(jī)模塊,所述相機(jī)模塊中的每個(gè)都包括圖像傳感器,所述相機(jī)模塊布置在所述結(jié)構(gòu)上的相同平面中并且在所述平面中彼此偏移;以及
標(biāo)板,所述標(biāo)板用于同時(shí)測(cè)試所述相機(jī)模塊,所述標(biāo)板包括多個(gè)包括圖案的圖塊,其在兩個(gè)維度上重復(fù),使得在兩個(gè)維度上由不同相機(jī)模塊能夠看到相同信息,每個(gè)圖塊都包含用于測(cè)試相機(jī)模塊的信息,所述相機(jī)模塊和所述圖塊布置成使得不同相機(jī)模塊面向不同圖塊,但以所述相同角度看到所述相同信息;
其中,所述相機(jī)模塊中的,第一相機(jī)模塊面向第一組圖塊,并且第二相機(jī)模塊面向第二組圖塊,所述第一組圖塊和所述第二組圖塊在兩個(gè)維度上重疊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述相機(jī)模塊在所述結(jié)構(gòu)上布置成二維陣列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述圖塊沿所述標(biāo)板的兩個(gè)維度重復(fù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中每個(gè)圖塊包括ISO-12233清晰度測(cè)試標(biāo)板的組成部分,所述部分對(duì)應(yīng)于所述相機(jī)模塊的類型。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述結(jié)構(gòu)能夠旋轉(zhuǎn),所述結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)軸平行于地平面。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述結(jié)構(gòu)能夠旋轉(zhuǎn),所述結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)軸垂直于地平面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述結(jié)構(gòu)是線性測(cè)試系統(tǒng)的一部分。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中不同圖塊包含不同信息,具有不同信息的所述圖塊布置成一個(gè)或多個(gè)圖案,使得所述不同相機(jī)模塊可以所述相同角度看到包含所述相同信息的圖塊的圖案中的至少部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所有圖塊包含所述相同信息。
10.一種用于測(cè)試相機(jī)模塊的標(biāo)板,包括:
多個(gè)圖塊,所述多個(gè)圖塊在兩個(gè)維度上重復(fù),使得相同圖案在兩個(gè)維度上重復(fù)并且在兩個(gè)維度上由不同相機(jī)模塊能夠看到,每個(gè)圖塊都包含用于測(cè)試相機(jī)模塊的信息,所述圖塊相對(duì)于彼此布置成使得不同相機(jī)模塊可面向不同圖塊,但以所述相同角度看到所述相同信息;
其中,所述多個(gè)圖塊第一組圖塊以面向第一相機(jī)模塊以及第二組圖塊以面向第二相機(jī)模塊,所述第一組圖塊和所述第二組圖塊在兩個(gè)維度上重疊。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的標(biāo)板,其中所述相機(jī)模塊在某結(jié)構(gòu)上布置成二維陣列。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于泰拉丁公司,未經(jīng)泰拉丁公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201480006596.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 在集成電路器件中求解線性矩陣
- 矩陣計(jì)算裝置、矩陣計(jì)算方法
- 一種數(shù)據(jù)聚類的方法、裝置及Spark大數(shù)據(jù)平臺(tái)
- 適用于黑白圖片的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)方法以及訓(xùn)練方法
- 適用于灰度圖片的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)方法以及訓(xùn)練方法
- 矩陣
- 矩陣/密鑰生成裝置、矩陣/密鑰生成系統(tǒng)、矩陣結(jié)合裝置、矩陣/密鑰生成方法、程序
- 矩陣運(yùn)算電路、矩陣運(yùn)算裝置及矩陣運(yùn)算方法
- 矩陣乘法計(jì)算方法和裝置
- 數(shù)據(jù)讀取方法、裝置、介質(zhì)和計(jì)算設(shè)備
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





