[發明專利]多重匯流條用干擾校正方式單點檢測電流傳感器有效
| 申請號: | 201480003363.9 | 申請日: | 2014-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN104854461B | 公開(公告)日: | 2019-02-19 |
| 發明(設計)人: | 尹鐘贊;安榮虎 | 申請(專利權)人: | 雷特格雷株式會社 |
| 主分類號: | G01R15/20 | 分類號: | G01R15/20;G01R33/07 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 黃綸偉 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多重 匯流 干擾 校正 方式 單點 檢測 電流傳感器 | ||
1.一種多重匯流條用干擾校正方式單點檢測電流傳感器,其特征在于,包含:
多個磁傳感器模塊,絕緣接觸或相鄰的設置在各多個匯流條上,以磁傳感器測量并輸出在匯流條流過的電流;
信號收集模塊,收集所述多個磁傳感器模塊輸出的測量信號;以及
信號干擾校正模塊,對于所述信號收集模塊收集的信號,計算所述多個匯流條相互之間的干擾量,并導出消除干擾的校正電流值,
信號干擾校正模塊的構成包含:
干擾系數矩陣生成部,生成下述數學式1所示的干擾系數矩陣,
I=H*I'
其中,I表示測定電流矩陣,H表示干擾系數矩陣,I'表示實際電流矩陣,h00、h11、h22、…hNN表示測定對象匯流條對自身的影響比率,根據溫度、電流量、距離的變數,不是1;
干擾系數導出部,利用所述干擾系數矩陣或內插法,導出相應匯流條的干擾系數;以及
校正電流值運算部,利用所述導出的相應干擾系數,導出校正電流值,
所述干擾系數矩陣是根據下述數學式2建模而生成,
[數學式2]
在此,B=磁通密度,u0=真空磁導率,I=電流,r=到導電體的距離、即到匯流條或相鄰匯流條的距離,dl=電流方向的線積分,r^=r方向的單位矢量,
所述單點檢測電流傳感器還包含溫度測定模塊,且干擾系數矩陣是在預先規定的溫度范圍內按預先規定的單位生成多個并儲存,所述信號干擾校正模塊是利用符合所述溫度測定模塊所測定溫度的干擾系數矩陣而導出校正電流值,
所述干擾系數矩陣是,從含溫度、電流及測定位置和所述匯流條之間的距離的群中選出一個以上的變數,在其預先規定的范圍內按預先規定的單位生成多個,
對于溫度值和電流值存在多個所述干擾系數矩陣,利用與測定的溫度值和電流值符合的所述干擾系數矩陣而導出所述校正電流值。
2.根據權利要求1所述的多重匯流條用干擾校正方式單點檢測電流傳感器,其特征在于,
所述磁傳感器模塊的構成包含:
磁傳感器,絕緣接觸或相鄰的設置在所述匯流條,并收集由流過所述匯流條的電流所產生的磁力線;以及
信號分析電路,分析從所述磁傳感器收集的信號,逆算在所述匯流條流過的電流信息。
3.根據權利要求1所述的多重匯流條用干擾校正方式單點檢測電流傳感器,其特征在于,
所述信號干擾校正模塊還包含:
干擾校正記憶體,用于儲存在所述干擾系數矩陣生成部生成的干擾系數矩陣,以及利用所述干擾系數導出校正電流值的干擾校正方程式,
所述干擾系數導出部及所述校正電流值運算部從所述干擾校正記憶體讀取對所述測量信號的干擾校正所需的值而計算校正電流值。
4.根據權利要求1所述的多重匯流條用干擾校正方式單點檢測電流傳感器,其特征在于,
所述單點檢測電流傳感器還包含,對所述磁傳感器模塊輸出的測量信號,計算含溫度、與匯流條的距離、及磁通強度的環境變數,并按傳感器導出測定誤差校正值的測定誤差校正模塊,
所述信號干擾校正模塊根據所述測定誤差校正模塊導出的測定誤差校正值,導出所述校正電流值。
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