[發(fā)明專利]具有平面狀通道的垂直功率金氧半場效晶體管元胞有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480002340.6 | 申請日: | 2014-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN105431946B | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾軍;穆罕默德·恩·達維希;蒲奎;蘇世宗 | 申請(專利權(quán))人: | 馬克斯半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/78 | 分類號: | H01L29/78;H01L29/732;H01L21/8224 |
| 代理公司: | 北京市浩天知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11276 | 代理人: | 宋菲;劉云貴 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 平面 通道 垂直 功率 半場 晶體管 | ||
本發(fā)明公開了一種具有平面狀通道的垂直功率金氧半場效晶體管元胞,包括具有漏極電極的N+硅基板。低摻雜濃度N型漂移層長于該基板上。交替的N型縱列與P型縱列形成于該漂移層上并具有較高的摻雜濃度。然后具有高于該漂移區(qū)的摻雜濃度的N型層被形成且被蝕刻成具有側(cè)壁。P井被形成于該N型層,并且N+源極區(qū)被形成于該P井中。柵極被形成于該P井的橫向通道上,并且靠近該側(cè)壁以作為一垂直場板。源極電極接觸該P井與源極區(qū)。正柵極電壓反型該橫向通道并且沿著該側(cè)壁來增加導(dǎo)電性。該源極與該漏極之間的電流橫向地流動,然后透過多樣的N層來垂直地流動。開啟電阻被減少且該擊穿電壓被增加。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明關(guān)于功率金氧半場效晶體管(metal-oxide-semiconductor field-effecttransistor,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管,于下文中稱作為MOSFET),尤指具有平面狀DMOS部與垂直導(dǎo)電部的垂直超級結(jié)MOSFET。
本申請案主張的優(yōu)先權(quán)為在2014年2月4日由Jun Zeng等向美國智慧財產(chǎn)局所提出的申請案,其申請案號為61/935,707,在此并入其全部參考內(nèi)容。
背景技術(shù)
垂直MOSFET作為高電壓且高功率的晶體管是受歡迎的,由于能夠提供厚的且低摻雜濃度的漂移層,以達到于該關(guān)閉狀態(tài)中的高擊穿電壓。通常,該MOSFET包括高摻雜的N型基板、厚且低摻雜濃度的N型漂移層、靠合于該漂移層的P型主體層、于該主體層頂部的N型源極以及借由薄的柵極氧化物而自該主體區(qū)分開的柵極。其通常提供一垂直凹槽柵極。源極電極被形成于該頂面,并且漏極電極被形成于該底面。當該柵極對于該源極來說足夠正時,該N型源極與該N型漂移層之間的P型主體的通道區(qū),反型并創(chuàng)造在源極與漏極之間的垂直導(dǎo)電路徑。
于該裝置為關(guān)閉狀態(tài)中,當該柵極與該源極為短路或為負時,于該源極與漏極之間的漂移層消耗及大的擊穿電壓(例如超過600伏特)能被持續(xù)。然而,由于厚的漂移層所需要的低摻雜,使得該開啟電阻變差。增加該漂移層的摻雜會減少該開啟電阻,但是會降低該擊穿電壓。
形成延伸至該基板的交替P型硅與N型硅的垂直縱列,以取代單一N型漂移層為現(xiàn)有技術(shù),其中這些縱列中的電荷被平衡,且當該MOSFET被關(guān)閉時,于高電壓的P型縱列與N型縱列完全地消耗。其被稱為超級結(jié)(super junction)。于此配置中,該N型縱列的摻雜濃度可高于現(xiàn)有N型漂移層的摻雜濃度。其結(jié)果,于相同的擊穿電壓下開啟電阻能被減少。超級結(jié)MOSFET能借由多重磊晶生長與植入制程來被形成。形成延伸至該基板的厚且交替的P型縱列與N型縱列需要多次的循環(huán),該循環(huán)為磊晶生長該縱列厚度的一部分,然后遮蔽并植入該P型摻雜與該N型摻雜,然后長出更多的縱列厚度并重復(fù)該遮蔽與植入制程。植入步驟的數(shù)量可能超過20次,取決于該厚度。在每一植入循環(huán)之間,由于高的制程溫度,這些摻雜會產(chǎn)生不期望的橫向擴散。其大幅地增加了胞數(shù)組中所需要的胞間距,使得該晶粒變更大。其結(jié)果,該MOSFET不理想地被形成,且制程非常耗時。
另外,超級結(jié)可借由P型延伸層再填充的N型硅中蝕刻深的凹槽來被形成。這些凹槽必須為深的,使得其為足夠長的垂直漂移層,以于高擊穿電壓中作為一空乏區(qū)。形成深的凹槽耗時,因此成本昂貴。
這些功率MOSFET被形成具有大數(shù)量的相同的平行胞。這些裝置之間的任何變化可能造成于該MOSFET上發(fā)生不均勻的電流與溫度,會減少其效率與擊穿電壓。
功率MOSFET所需要的是,不具有上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點與限制。
發(fā)明內(nèi)容
于一實施例中,MOSFET被形成具有用于橫向電流流動的平面狀通道區(qū),以及用于垂直電流流動的垂直導(dǎo)電路徑。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





