[發明專利]一種TDD系統中RRM測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201480000430.1
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN105309001B
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發明（設計）人: 吳彤;李安儉
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W24/00
• 分類號: H04W24/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 馮艷蓮

本發明提供了一種TDD系統中RRM測量方法及裝置，用以解決目前在進行TDD系統的異頻測量或者異制式測過程中，存在UE無法對TTD上下行配置標識為0的小區進行RRM測量的問題。本發明實施例中，UE根據網絡設備下發的RRM測量消息中攜帶的測量指示信息，采用相應的RRM測量方法對TDD上下行配置標識為0的小區進行RRM測量。采用本發明技術方案，UE采用RRM測量方法，能夠對TDD上下行配置標識為0的小區進行RRM測量。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，特別涉及一種TDD系統中RRM測量方法及裝置。

背景技術

目前，TD-LTE(Time Division Duplexing Long Term Evolution，長期演進)網絡以其數據傳輸速率高，頻譜效率高，頻譜分配靈活等諸多優點得到了廣泛的關注。

參閱表1所示，為TDD系統中LTE網絡對應的七種上下行子幀配置方式。

表1 TDD系統的上下行配置

在表1中，0-6表示七種不同的配置標識；U表示上行子幀；D表示下行子幀；S表示特殊子幀，用于完成上行子幀和下行子幀之間的切換。

在TD-LTE網絡中，每個子幀對應的時長為1毫秒。參閱表1所示，TDD 上下行配置0所包含的下行子幀數目最少，即子幀0到子幀9中僅包含兩個下行子幀；并且，由表1可知，在每一個上下行切換周期點(5毫秒)中，僅包含一個下行子幀。

在LTE系統中，用戶終端需要做同頻(Intra-frequency)測量，異頻 (Inter-frequency)測量，以及異制式(Inter-RAT)測量等RRM(Radio Resource Management；無線資源管理)。在進行同頻測量的過程中，由于UE(User Equipment；用戶設備)對應的待測量中心頻點不會變化，因而無須中斷對原服務小區的連接。但在進行異頻測量，或者異制式測量的過程中，由于UE對應的待測量中心頻點會發生偏移，因此，用戶需要一個“間隔”的時間段，稱之為Gap(間隔)，在該Gap內中斷對原服務小區的連接，將頻點調整到目標中心頻點上，對目標中心頻點進行測量，并在Gap結束時調整回原來的中心頻點。目前，LTE網絡所支持的Gap種類如表2所示。

表2 LTE用戶終端支持的Gap種類

上述表2給出的各種Gap同時適用于LTE的FDD系統以及TDD系統，具體的，對于LTE的FDD系統以及TDD系統，測量Gap的長度均為6ms，但是針對不同的系統對應的重復周期不同。

在進行異頻測量或者異制式測量的過程中，上述Gap對應的6ms之中，約有1ms的時間用于UE進行射頻調整(中心頻點調整等)，剩下的5ms用于UE 進行異頻測量或者異系統測量。而對于TDD系統，對異頻測量的5ms進行了進一步限制，如表3所示。

表3 在不同Gap配置下的TDD所需要的上下行子幀數

由表3可知，無論對于TDD測量時的帶寬為多少，在每個5ms中，必須需要有兩個下行子幀，才能滿足RRM測量需求。而對于TDD上下行配置0，在每個5ms中，僅僅有一個下行子幀。因此，當前的RRM測量需求，無法適用于 TDD上下行配置0，從而使得UE無法對TTD上下行配置標識為0的小區進行 RRM測量。

綜上所述，目前在進行TDD系統的異頻測量或者異制式測過程中，存在 UE無法對TTD上下行配置標識為0的小區進行RRM測量的問題。

發明內容

本發明實施例提供一種TDD系統中RRM測量方法及裝置，用以解決目前在進行TDD系統的異頻測量或者異制式測過程中，存在UE無法對TTD上下行配置標識為0的小區進行RRM測量的問題。