[實(shí)用新型]激光雷達(dá)光學(xué)效率檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420871223.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204347239U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于會(huì);李虎 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 無(wú)錫中科光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01S7/497 | 分類(lèi)號(hào): | G01S7/497 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 214135 江蘇省無(wú)錫市菱湖*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光雷達(dá) 光學(xué) 效率 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種激光雷達(dá)光學(xué)效率檢測(cè)裝置;其特征在于:所述檢測(cè)裝置包括:
光闌,所述光闌設(shè)置在激光雷達(dá)望遠(yuǎn)鏡的中心光軸上;
分光模塊,所述分光模塊設(shè)置在激光雷達(dá)的光路上的光闌的下游;
光功率計(jì),所述光功率計(jì)可移動(dòng)地設(shè)置在所述分光模塊的側(cè)部,用于檢測(cè)不同波長(zhǎng)光的功率;
第一反射鏡,當(dāng)檢測(cè)接收能量時(shí)所述第一反射鏡將輸出光闌的光折返。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:
當(dāng)檢測(cè)發(fā)射能量時(shí),所述分光模塊和光闌處于同一側(cè);
當(dāng)檢測(cè)接收能量時(shí),所述分光模塊和光闌處于望遠(yuǎn)鏡的兩側(cè),所述光闌和第一反射鏡處于同一側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述反射鏡是角錐鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述分光模塊采用諧波片。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述分光模塊包括二個(gè)諧波分離片及第二反射鏡。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述光闌的出光孔徑可調(diào)范圍為1-10mm。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于無(wú)錫中科光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)無(wú)錫中科光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201420871223.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01S 無(wú)線(xiàn)電定向;無(wú)線(xiàn)電導(dǎo)航;采用無(wú)線(xiàn)電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線(xiàn)電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類(lèi)似裝置
G01S7-00 與G01S 13/00,G01S 15/00,G01S 17/00各組相關(guān)的系統(tǒng)的零部件
G01S7-02 .與G01S 13/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
G01S7-48 .與G01S 17/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
G01S7-52 .與G01S 15/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
G01S7-521 ..結(jié)構(gòu)特征
G01S7-523 ..脈沖系統(tǒng)的零部件
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





