[實用新型]導光膜調試設備

有效

• 申請號: 201420865504.5
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN204439322U
• 公開（公告）日: 2015-07-01
• 發明（設計）人: 趙世帥;羅福勇;徐亮亮;沈鵬飛;沈明華;周俊
• 申請（專利權）人: 蘇州通爾泰新材料科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京市科名專利代理事務所(特殊普通合伙) 11468
• 代理人: 郭楊

1.一種導光膜調試設備，其特征在于：用于檢測導光膜(3)的導光部(31)處的導光效果，包括設置于光源(4)上的勻光片(1)、用于設置在所述的勻光片(1)與導光膜(3)之間的遮光片(2)，所述的遮光片(2)上對應所述的導光部(31)開設有檢測通孔(21)，檢測導光膜(3)導光效果時，所述的光源(4)透過所述的勻光片(4)照射于所述的遮光片(2)與所述的導光部(31)上。

2.根據權利要求1所述的導光膜調試設備，其特征在于：所述的導光膜調試設備還包括所述的遮光片(2)與所述的導光膜(3)之間的位置相匹配的定位機構。

3.根據權利要求2所述的導光膜調試設備，其特征在于：所述的導光膜(3)上具有導光膜定位孔(32)，對應所述的導光膜定位孔(32)的個數與孔位，所述的定位機構包括開設在所述的遮光片(2)上的遮光片定位孔(22)、凸出設置在所述的勻光片(1)上的定位針(11)，檢測導光膜(3)導光效果時，所述的定位針(11)插在所述的遮光片定位孔(22)與所述的導光膜定位孔(32)內。

4.根據權利要求3所述的導光膜調試設備，其特征在于：所述的定位針(11)有兩個以上，分別位于所述的勻光片(1)的相對的兩側部，檢測導光膜(3)導光效果時，兩側的所述的定位針(11)分別插在相應的所述的遮光片定位孔(22)與相應的所述的導光膜定位孔(32)內。

5.根據權利要求1所述的導光膜調試設備，其特征在于：所述的光源是由多個不同規格的LED燈并聯構成的，并且多個所述的LED燈并排設置。

6.根據權利要求1所述的導光膜調試設備，其特征在于：所述的遮光片(2)的厚度為0.06厘米。