[實用新型]一種用于金屬檢測的探頭

有效

• 申請號: 201420859638.6
• 申請日: 2014-12-30
• 公開（公告）號: CN204347274U
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發明（設計）人: 張瑞華
• 申請（專利權）人: 浙江萬里學院
• 主分類號: G01V3/10
• 分類號: G01V3/10;G01V3/11;G01B11/02
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 謝瀟

1.一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：包括固定艙和同軸套在所述的固定艙外表面的活動艙，所述的固定艙內安裝有探頭電路板，所述的探頭電路板上設置有光電探測電路和金屬探測電路，所述的活動艙的艙頭設置有連接所述的金屬探測電路的金屬探測線圈，所述的光電探測電路連接有發光二極管和光電二極管，所述的固定艙側面設置有安裝所述的發光二極管和所述的光電二極管的光電探測孔，所述的活動艙內表面設置有朝向所述的光電探測孔的計量光柵，所述的活動艙與所述的固定艙之間設置有使所述的活動艙與所述的固定艙相對運動的彈簧，所述的活動艙與所述的固定艙之間設置有轉動限制機構。

2.根據權利要求1所述的一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：所述的固定艙頭部設置有支承所述的彈簧一端的彈簧限位柱，所述的活動艙設置有支承所述的彈簧另一端的彈簧定位柱。

3.根據權利要求1所述的一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：所述的轉動限制機構包括設置在所述的固定艙外表面的導軌槽、設置在所述的活動艙內表面與所述的導軌槽匹配的導軌。

4.根據權利要求3所述的一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：所述的固定艙外表面設置有與所述的導軌槽方向并列的限位槽，所述的活動艙設置有與所述的限位槽匹配的限位柱。

5.根據權利要求1所述的一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：所述的固定艙底部設置有底座，所述的底座設置有固定孔，所述的固定艙內表面設置有安裝所述的探頭電路板的電路板槽。

6.根據權利要求1至5任一項所述的一種用于金屬檢測的探頭，其特征在于：所述的活動艙頭部設置有探頭帽。