[實(shí)用新型]丁基膠塞表面缺陷檢測(cè)分選設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420816940.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204255875U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-04-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王惠榮;孫偉;張建;范云;王磊;曹炎炎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖北華強(qiáng)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;B07C5/34 |
| 代理公司: | 宜昌市三峽專利事務(wù)所 42103 | 代理人: | 成鋼 |
| 地址: | 443003*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 丁基 表面 缺陷 檢測(cè) 分選 設(shè)備 | ||
1.丁基膠塞表面缺陷檢測(cè)分選設(shè)備,其特征在于:它包括工作臺(tái)(1)、振動(dòng)盤(pán)(2)、直線送料器(3)、頸部正面檢測(cè)鏡頭(4)、頸部正面檢測(cè)光源(5)、鏡頭支架(6)、冠面檢測(cè)鏡頭(7)、冠面檢測(cè)光源(8)、玻璃轉(zhuǎn)盤(pán)(9)、頸部背面檢測(cè)鏡頭(10)、頸部背面檢測(cè)光源(11)、良品收集裝置(12)、不良品收集裝置(13)、同步電機(jī)(14)和同步帶(15),振動(dòng)盤(pán)(2)固定在工作臺(tái)(1)上,直線送料器(3)與振動(dòng)盤(pán)(2)出料口相連,玻璃轉(zhuǎn)盤(pán)(9)設(shè)置在直線供料器(3)下方并安裝在工作臺(tái)(1)上,通過(guò)同步帶(15)與同步電機(jī)(14)驅(qū)動(dòng)裝置相連,鏡頭支架(6)固定安裝在工作臺(tái)上,頸部正面檢測(cè)鏡頭(4)、頸部正面檢測(cè)光源(5)、頸部背面檢測(cè)鏡頭(10)和頸部背面檢測(cè)光源(11)都設(shè)置在玻璃轉(zhuǎn)盤(pán)(9)的上方并同時(shí)分別安裝在鏡頭支架上,冠面檢測(cè)鏡頭(7)和冠面檢測(cè)光源(8)設(shè)置在玻璃轉(zhuǎn)盤(pán)(9)的下方并同時(shí)安裝在鏡頭支架(6)上,良品收集裝置(12)和不良品收集裝置(13)也安裝在工作臺(tái)(1)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的丁基膠塞表面缺陷檢測(cè)分選設(shè)備,其特征是:所述的玻璃轉(zhuǎn)盤(pán)(9)采用高透玻璃制成,轉(zhuǎn)盤(pán)邊緣設(shè)置有丁基膠塞夾緊定位裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的丁基膠塞表面缺陷檢測(cè)分選設(shè)備,其特征是:所述的良品收集裝置(12)和不良品收集裝置(13)還包括氣動(dòng)剔除控制系統(tǒng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的丁基膠塞表面缺陷檢測(cè)分選設(shè)備,其特征是:所述的頸部正面檢測(cè)鏡頭(4)、頸部正面檢測(cè)光源(5)、冠面檢測(cè)鏡頭(7)、冠面檢測(cè)光源(8)、頸部背面檢測(cè)鏡頭(10)、頸部背面檢測(cè)光源(11)能夠在鏡頭支架上進(jìn)行安裝位置的調(diào)節(jié)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 生產(chǎn)2-叔丁基-對(duì)甲酚和6-叔丁基-間甲酚的方法
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





