[實用新型]X-射線熒光光譜分析儀

有效

• 申請號: 201420799680.3
• 申請日: 2014-12-16
• 公開（公告）號: CN204359714U
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發明（設計）人: 韓曉朋
• 申請（專利權）人: 韓曉朋
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 廣州中浚雄杰知識產權代理有限責任公司 44254
• 代理人: 劉各慧

技術領域

本實用新型涉及X-射線熒光光譜分析儀，尤其是涉及對液態或粉末態樣品進行分析的X-射線熒光光譜分析儀。

背景技術

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量最低的能級狀態稱為基態能級，其余能級稱為激發態能級，能量最低的激發態則稱為第一激發態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差_△E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，形成原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，經過一較短時間后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程形成原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。

X-射線熒光光譜分析儀的分析原理是：光源發射出原級X-射線，該射線照射樣品，待測元素的原子吸收相應的能量形成激發態，外層電子向低能級電子層躍遷，同時發射出次級X-射線，即X-射線熒光，以釋放能量，通過探測器檢測X-射線熒光的強度，進而求得待測元素的含量。

現有的X-射線熒光光譜分析儀是將樣品放置到真空腔內，然后將真空腔抽成真空，通過X-射線和探測器檢測樣品中的成分。如在申請號為201320411650.X的專利文獻中公開了一種射線熒光光譜儀，其包括樣品腔和分析腔，在分析樣品時，樣品腔和真空腔均處在真空狀態下，這種方式適合于固態樣品的測試，如果將液態或粉末態的樣品放置到真空腔內，則液態很容易揮發，粉末態容易出現懸浮態，因此，會影響分析的結果。如果將真空腔與放置樣品的容器分開，由于真空腔內為負壓，同時光線又需要通過真空腔照射到樣品上來分析樣品，因此，如果不將樣品放置到真空腔內，則需要解決一重要問題是，在存在壓差的情況下如何實現對樣品的檢測分析。

發明內容

為了解決上述技術問題，本實用新型提供了一種X-射線熒光光譜分析儀。

解決上述技術問題的技術方案是：X-射線熒光光譜分析儀，包括箱體、真空腔體座、射線管單元及探測器單元；真空腔體座設在箱體內，真空腔體座具有真空腔；射線管單元設在真空腔體座上；探測器單元設在真空腔體座上；在真空腔體座上設有與真空腔相通的放置孔，放置孔放置有容器裝置，容器裝置內具有樣品腔，容器裝置的底部具有與樣品腔相通的通孔，在容器裝置上設有封閉通孔的透光膜，使樣品腔成為密閉腔，在容器裝置與真空腔體座之間設有密封結構。

上述結構光譜分析儀的分析原理是：先將液態或粉末態的樣品放入到樣品腔內，使樣品腔成為與外界隔離的密閉腔；然后將具有透光膜的容器裝置一端插入到放置孔內，讓射線管單元能夠通過真空腔照射到透光膜；然后將真空腔抽成真空，利用射線管單元和探測器單元分析樣品。在本實用新型中，由于設置了透光膜，因此，射線管單元的光能透過透光膜能照射到樣品上，通過探測器單元能對樣品進行分析；在對樣品進行分析時，樣品未處在真空腔內，這樣就可以防止液態樣品揮發或粉末態樣品懸浮，提高了分析的精確度；另外，在本實用新型中，雖然真空腔具有負壓，使得透光膜承受著一定的負壓力，但由于盛裝樣品的容器裝置為密閉腔，其不受外界大氣壓的影響，因此，透光膜兩側的壓力差小，透光膜不容易破裂，使得對樣品的分析更加可靠。

進一步的，所述的真空腔體座包括座體及上蓋板，所述的真空腔設置在座體內；在座體的上表面設有第一密封槽，蓋板固定在座體上，在蓋板與座體之間設有卡置到第一密封槽的第一密封圈；所述的放置孔設置在上蓋板上。該結構，一方面便于安裝拆卸射線管單元和探測器單元，便于加工真空腔體座，另一方面，可讓上蓋板與座體之間的密封性能好，以更好的保證真空腔內真空度穩定性。

進一步的，所述的容器裝置包括杯體及杯蓋，杯體內具有所述的樣品腔，杯體的底部為與樣品腔相通的通孔，透光膜封閉在杯體底部的通孔處，杯蓋蓋在杯體上，在杯蓋與杯體之間設有第二密封圈。該結構便于將容器裝置整體安放到真空腔體座上和從真空腔體座上取出；所述的容器裝置由杯體和杯蓋組成，便于盛裝樣品。因此，給操作帶來了方便。另外，通過設置第二密封圈可提高杯體與杯蓋之間的密封性能，減小外界大氣壓對樣品腔的影響。