[實用新型]一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀

有效

• 申請號: 201420775489.5
• 申請日: 2014-12-11
• 公開（公告）號: CN204240946U
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發明（設計）人: 姜世平;曹志明;張宜文;胡玲
• 申請（專利權）人: 四川云盾光電科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/26;G02B27/30
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 林輝輪;王蕓

1.一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，包括第一光源、第二光源、第一分劃板、第二分劃板、第一分光棱鏡、第二分光棱鏡、1/4波片、準直透鏡；

所述第二分光棱鏡為偏振分光棱鏡；

所述第一分劃板和第二分劃板均為“一字”型分劃板；第一和第二分劃板上的“一字”形刻線相互垂直擺放；

當第一光源開啟后，所發出的光線照亮第一分劃板，經過所述第一分劃板的光透過過第一分光棱鏡后，進入第二分光棱鏡，其后透過1/4波片，進入準直透鏡后，投射到目標反射面上；目標反射面將光反射后回來后經過準直透鏡的匯聚后，依次透過1/4波片、第二分光棱鏡；并經過第二分光棱鏡的反射后，入射到下位器件中；

當第二光源開啟后，所發出的光線照亮第二分劃板，經過所述第二分劃板的光經過第一分光棱鏡的反射作用后，透過第二分光棱鏡，經過1/4波片后，進入準直透鏡，投射到目標反射面上；目標反射面將光反射后回來后經過準直透鏡的匯聚后，透過1/4波片并經過第二分光棱鏡的反射后，入射到下位器件中。

2.如權利要求1所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，包括第三分光棱鏡、第一PSD探測器和第二PSD探測器；經過第二分光棱鏡反射的光信號經過第三分光棱鏡的透射和反射作用后分別進入第一PSD探測器和第二PSD探測器中。

3.如權利要求2所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述第一光源和第二光源為LED光源。

4.如權利要求3所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述準直透鏡為膠合透鏡組。

5.如權利要求1至4之一所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述第一分劃板上的“一字”刻線位于自準直儀的中軸線的正上方，平行于自準直儀的軸線。

6.如權利要求5之一所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述第二分劃板上的“一字”刻線，水平擺放于自準直儀的中軸線的正上方，垂直于自準直儀的軸線。

7.如權利要求1至4之一所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述第二分劃板上的“一字”刻線位于自準直儀的中軸線的正上方，平行于自準直儀的軸線。

8.如權利要求7之一所述的一種雙軸雙探測偏振光電自準直儀，其特征是，所述第一分劃板上的“一字”刻線，水平擺放于自準直儀的中軸線的正上方，垂直于自準直儀的軸線。