[實用新型]一種非接觸式高度測量儀

有效

• 申請號: 201420746550.3
• 申請日: 2014-12-03
• 公開（公告）號: CN204329895U
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發明（設計）人: 郭森林;李鶴南
• 申請（專利權）人: 鄭州磨料磨具磨削研究所有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 鄭州中原專利事務所有限公司 41109
• 代理人: 霍彥偉

技術領域

本實用新型屬于測量工具技術領域，具體涉及一種非接觸式高度測量儀。

背景技術

測量物體高度、長度等尺寸時，最常用的量具是游標卡尺、千分尺、高度尺等，它們都屬于接觸式測量，對強度低的物體，比如陶瓷壓制生坯，接觸測量很容易對其造成損傷，所以，此種情況下非接觸測量很有必要。

激光具有直線性好、發散角小、能量集中等特點。激光檢測是一種非接觸式測量，具有精度高、測量范圍大、檢測時間短、空間分辨率高等特點。激光檢測技術應用已十分廣泛，如激光干涉測長、激光測距、激光測振、激光測速、激光散斑測量、激光全息、激光掃描、激光跟蹤、激光光譜分析等，這些都顯示了激光測量的巨大優越性。隨著激光技術的發展,微型激光發生器的應用也日益普遍,激光測量的精度、便攜性都得到大大提高，使得利用激光進行非接觸檢測成為可能。

發明內容

本實用新型的目的是克服現有技術的不足而提供一種非接觸測量的高度尺，該裝置在檢測強度低的物體尺寸時，可以避免接觸測量時造成的測量對象人為損傷。

為了達到上述目的，本實用新型采用如下技術方案：

本實用新型提供一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；在所述固定板與尺柱軌道之間設有與刻度尺尺柱相平行的激光發生器尺柱，激光發生器尺柱的上端嵌入固定板中，激光發生器尺柱的下端可拆卸安裝在尺柱軌道上；激光發生處理器通過鎖緊機構固定在穿入激光發生處理器中的激光發生器尺柱上，在刻度尺尺柱上與激光發生處理器相對應位置連接有數顯裝置。

一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；激光發生處理器通過鎖緊機構固定在穿入激光發生處理器中的刻度尺尺柱上。

所述尺柱軌道為橢圓環型凹槽。

與現有技術相比，本實用新型取得的有益效果：

本實用新型通過非接觸測量，可以避免對強度低物體的人為損傷，并可提高測量效率。

附圖說明

圖1是本實用新型結構示意圖之一；

圖中，1、底座，2、尺柱軌道，3、激光發生處理器，4、刻度尺尺柱，5、激光發生器尺柱，6、刻度數顯表；

圖2是本實用新型結構示意圖之二；

圖中，1、底座，2、尺柱軌道，3、激光發生處理器，4、刻度尺尺柱；

圖3是兩種典型的激光光束形狀；

圖4是本實用新型實施示意圖之一；

圖5是本實用新型的實施示意圖之二。

具體實施方式

????下面結合附圖對本實用新型進一步說明，本實用新型主要應用在低強度物體的高度測量，比如陶瓷制品壓制濕坯件。

實施例1

參照圖1所示，一種非接觸式高度測量儀，包括底座1和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4與底座1的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座1上開設的尺柱軌道2上，尺柱軌道2為橢圓環型凹槽；在固定板與尺柱軌道2之間設有與尺柱相平行的激光發生器尺柱5，激光發生器尺柱5的上端嵌入固定板中，激光發生器尺柱5的下端可拆卸安裝在尺柱軌道2上；激光發生處理器3通過鎖緊機構固定在穿入激光發生處理器3中的激光發生器尺柱5上，在刻度尺尺柱4上與激光發生處理器相對應位置連接有刻度數顯表6。

實施例2

參照圖2所示，一種非接觸式高度測量儀，包括底座1和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4與底座1的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座1上開設的尺柱軌道2上，尺柱軌道2為橢圓環型凹槽；激光發生處理器3通過鎖緊機構固定在穿入激光發生處理器3中的刻度尺尺柱4上。

實施例3：

參照圖1、圖3和圖4所示，將陶瓷塊放置在底座1上面，調節激光發生處理器3的位置，使激光光束與陶瓷塊的上端面平齊，讀取刻度尺尺柱4上的數值，即為所測陶瓷塊的高度。如激光發生處理器3所處位置不便于測量，可以沿尺柱軌道2改變其位置。

實施例4：

參照圖2、圖3和圖5所示，將需要檢測的陶瓷塊a、b放在底座1上，將激光發生處理器3在刻度尺尺柱4上的位置調整至陶瓷塊的要求高度，激光光束落在陶瓷塊a的上端面以下，說明陶瓷塊a的高度超出要求高度，為測量陶瓷塊b，調整激光發生處理器3的位置至圖中虛線處，激光光束沒有落在陶瓷塊b上，說明陶瓷塊b的高度比控制高度低。