[實用新型]一種測試裝置及包括其的測試系統

有效

• 申請號: 201420711275.1
• 申請日: 2014-11-24
• 公開（公告）號: CN204214983U
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 呂建奇
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 楊波

1.一種測試裝置，用于測試TFT基板上的電極，其特征在于，所述測試裝置包括：

多個測試點，所述多個測試點均位于所述TFT基板上；

多個反饋點，所述多個反饋點均設置在所述TFT基板上；

基座，所述基座設置有多個反饋探針和多個測試探針，且所述多個反饋探針和所述多個測試探針通過基座聯動的，同時所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應，所多個測試探針與所述多個測試點一一對應；以及

信號發生器，包括測試信號輸出端、判斷信號輸出端及信號接收端，所述判斷信號輸出端、所述多個反饋探針、所述多個反饋點及所述信號接收端組成了反饋回路；

其中，所述判斷信號輸出端用于輸出判斷信號至一個反饋探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應電連接，所述反饋回路導通，所述測試信號輸出端輸出測試信號至所述多個測試探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點未一一對應電連接，所述反饋回路斷開，所述測試信號輸出端停止輸出所述測試信號至所述多個測試探針。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括觸發開關，所述觸發開關位于所述信號發生器的判斷信號輸出端與反饋探針之間。

3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋探針和所述多個反饋點一一對應，所述多個反饋點位于同一水平線上，所述多個反饋探針也位于同一水平線上。

4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個測試探針和所述多個測試點一一對應，所述多個測試點位于同一水平線上，所述多個測試探針也位于同一水平線上。

5.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點之間利用導線相互串聯連接。

6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括兩組反饋點，所述兩組反饋點分別位于多個測試點兩端。

7.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點和多個測試點均可為圓形、方形、三角形、多邊形任意其一的幾何形狀。

8.如權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點的面積均小于所述多個測試點的面積。

9.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點和多個測試點均由導電材料構成。

10.一種測試系統，其特征在于，包括如權利要求1至9任意一項所述的測試裝置。