[實用新型]一種用于納米級金屬粉末SEM測試的輔助制樣工具

有效

• 申請號: 201420705795.1
• 申請日: 2014-11-21
• 公開（公告）號: CN204214709U
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 蔣超;彭家斌
• 申請（專利權）人: 江蘇博遷新材料有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

技術領域

本實用新型涉及化工制造領域，具體涉及一種用于納米級金屬粉末SEM測試的輔助制樣工具制樣輔助工具。

背景技術

金屬納米粉在體積形態上處于納米級別，在其粉末狀態時，顆粒之間的間隙很容易形成“毛細管”而形成虹吸現象，能快速吸收空氣中的水分，使得局部粉末吸水團聚，形成粉團，嚴重影響了粉末的分散效果。目前普遍借助手工過篩網的分散性檢驗手段來判斷金屬納米粉的分散性，具體方法為取一定量的待檢金屬納米粉，加入到一定量的有機溶劑中，然后再手工過一定目數的分樣篩，最終收集殘留在篩網上的物質，干燥后取樣進行掃描電子顯微鏡分析。該方法是根據殘留物的多少來判斷金屬納米粉分散性是否合格的依據，但在掃描電子顯微鏡拍攝前取樣就變得尤為關鍵。目前，是采取用稱量紙收集樣品并直接倒入在樣品臺上，樣品落點面積不好控制，掃描電子顯微鏡拍攝的最大面積是固定的，導致部分樣品拍攝不到，檢測結果差異較大。

實用新型內容

本實用新型針對現有技術的不足，提供了一種用于納米級金屬粉末SEM測試的輔助制樣工具，使用此工具將樣品轉移到電子掃描顯微鏡樣品臺上，可使樣品落在較小的范圍內，方便通過電子掃描顯微鏡觀察樣品的形貌和數量。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種用于納米級金屬粉末SEM測試的輔助制樣工具，包括金屬柱，在金屬柱上部設有圓臺形孔，圓臺形孔上面為進樣口，圓臺形孔下面為出樣口。

進一步的，所述金屬柱為圓柱體。

進一步的，?所述金屬柱下部設有圓形孔，所述圓臺形孔下部通至圓形孔上部，圓臺形孔與圓形孔組合成一通孔。

進一步的，所述金屬柱的材質為不銹鋼，內部拋光。

本實用新型的有益效果是：使用此工具將樣品轉移到電子掃描顯微鏡樣品臺上，可使樣品落在較小的范圍內，方便通過電子掃描顯微鏡觀察樣品的形貌和數量。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

圖中：1、金屬柱，2、圓臺形孔,3、進樣口，4、出樣口，5、圓孔。

具體實施方式

下面將結合附圖對實用新型作進一步說明。

輔助制樣工具的主要目的是：將樣品轉移到電子掃描顯微鏡樣品臺上，可使樣品落在較小的范圍內，方便通過電子掃描顯微鏡觀察樣品的形貌和數量。

如圖1所示，本實用新型提供一種輔助制樣工具，包括金屬柱1，金屬柱1為圓柱體，在金屬柱1上部設有圓臺形孔2，圓臺形孔2上面是進樣口3，圓臺形孔2下面是出樣口4。?圓臺形孔2上面的口大利于樣品從中放入，圓臺形孔錐面經過拋光，有利于樣品下落，圓臺形孔2下面的口小，樣品沿著錐面向下運動經出樣口落到樣品臺上形成較小面積。

進一步的，金屬柱1下部設有圓柱形孔5。下部圓柱形孔5減小金屬柱下面與樣品臺上導電膠的接觸面積，金屬柱1取下后，導電膠不粘連。

使用時，將先一塊導電膠粘到樣品臺上，再將本工具出樣口朝著導電膠按在樣品臺上，將收集在取樣紙上的樣品從進樣口放入，輕輕向上移開制樣輔助工具，制樣完成。通過電子掃描顯微鏡觀察樣品的形貌和數量。