[實用新型]全數字式小倍率瞄具物方角測試設備

有效

• 申請號: 201420672834.2
• 申請日: 2014-11-10
• 公開（公告）號: CN204165735U
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 王勁松;石麗霞;李延風;呼丹
• 申請（專利權）人: 長春理工大學
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 長春市吉利專利事務所 22206
• 代理人: 李曉莉

技術領域

本實用新型屬于光學測量領域，特別是涉及到小放大倍率白光與微光瞄準系統的物方角進行測量的測試設備。

背景技術

現有技術當中物方角測量廣泛應用于測繪儀器檢測及光學測量等領域。瞄具物方角泛指包括視準軸變化量、分辨率、裝表精度、裝表范圍、視場等光學系統的物方空間角度參數，這些參數直接影響到瞄具的性能，因此，這些參數的檢測對于瞄具是十分重要的，是使其能正常工作的基本保障。

目前，要實現這些參數的檢測，通常需要多個儀器設備完成，例如專門測量視準軸變化量的零位儀、測量分辨率的平行光管、測量裝表精度的經緯儀及測量裝表范圍和視場的視場儀等。即使現在已經研制出了可以同時測量多個參數的檢測儀器，但由于被測參數的精度要求和對靶標圖案要求的不同，這類儀器要根據被測參數更換分劃板，這就很難保證高精度的檢測。另外，物方角參數中，有的對檢測儀器光學系統的分辨率要求高，如視準軸變化量、分辨率、裝裱精度等，有的要求檢測儀器光學系統具有大視場，而對于光學系統來講大視場和高分辨率是互相矛盾的，也就是說，高分辨率的光學系統其視場不大，大視場的分辨率不高。因此，要在同一套儀器設備上實現物方角所有參數的檢測是十分困難的。

綜上所述，現有技術當中亟需要一種新的技術方案來解決此類問題。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題為：提供一種瞄具物方角多參數大視場高分辨率測量的檢測儀。

全數字式小倍率瞄具物方角測試設備,其特征在于：包括方位平面反射鏡、俯仰數字轉臺、俯仰平面反射鏡、方位數字轉臺、平行光管主體、數字分劃板組件、光學平臺、X向數控平移臺和Y向數控平移臺，所述的方位平面反射鏡安裝于方位數字轉臺上，且方位平面反射鏡和方位數字轉臺構成方位讀數及視場擴展組件；所述的俯仰數字轉臺固定安裝于X向數控平移臺的上面；所述的俯仰平面反射鏡安裝于俯仰數字轉臺上，且俯仰數字轉臺和俯仰平面反射鏡構成俯仰讀數及視場擴展組件；所述的方位數字轉臺固定安裝于X向數控平移臺的上面；所述的數字分劃板組件通過平行光管主體固定安裝于光學平臺的上面，且平行光管主體和數字分劃板組件構成平行光管；所述的Y向數控平移臺固定安裝于光學平臺的上面，且Y向數控平移臺位于X向數控平移臺的下面。

所述的方位平面反射鏡、俯仰數字轉臺、俯仰平面反射鏡、方位數字轉臺通過X向數控平移臺和Y向數控平移臺改變水平二維坐標位置。

所述的方位平面反射鏡圍繞方位數字轉臺的回轉軸為軸產生旋轉位移。

所述的俯仰平面反射鏡圍繞俯仰數字轉臺的回轉軸為軸產生旋轉位移。

所述的數字分劃板組件由數字光處理器、有機發光二極管顯示屏、硅上液晶器構成。

所述的光學平臺安裝有減振隔層。

通過上述設計方案本實用新型可以帶來如下有益效果：本實用新型的數字分劃板組件主要由高分辨率數字光處理(DLP)器件構成，此外還可以是有機發光二極管(OLED)顯示屏或者是硅上液晶(LCOS)器件構成。可以在計算機控制下顯示測量需要的分劃圖形，不用更換分劃板的情況下，針對不同參數提供不同分劃形式的圖案，提高了靈活性的同時，避免了因更換分劃板引入的重復安裝誤差，還節省了更換分劃板的時間，極大地提高了檢測效率。

本實用新型設備的通用性、靈活性、適用性很強，保證測試精度的同時，能夠大大提高瞄具試驗效率，降低人力及設備設施投入成本。

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式對本實用新型做進一步的說明：

圖1是本實用新型的結構示意圖。

圖中1-方位平面反射鏡、2-俯仰數字轉臺、3-俯仰平面反射鏡、4-方位數字轉臺、5-平行光管主體、6-數字分劃板組件、7-光學平臺、8-X向數控平移臺、9-Y向數控平移臺。

具體實施方式

全數字式小倍率瞄具物方角測試設備主要組成包括：方位平面反射鏡1、俯仰數字轉臺2、俯仰平面反射鏡3、方位數字轉臺4、平行光管主體5、數字分劃板組件6、光學平臺7、X向數控平移臺8和Y向數控平移臺9(如附圖1所示)。其中平行光管主體5和數字分劃板組件6構成模擬無窮遠目標的平行光管；方位數字轉臺4和方位平面反射鏡1構成方位讀數及視場擴展組件；俯仰數字轉臺2和俯仰平面反射鏡3構成俯仰讀數及視場擴展組件。