[實用新型]一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420653518.0 | 申請日: | 2014-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN204166110U | 公開(公告)日: | 2015-02-18 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李強;肖宇;錢立平;董磊;鄒瑞洵 | 申請(專利權)人: | 大連理工常熟研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/40 | 分類號: | G01R31/40 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215522 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 節(jié)能 逆變器 老化 測試 裝置 | ||
1.一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置,其特征在于:AC/DC轉換電路(2)連接入市電電網(1);一組逆變器老化測試陣列連接于AC/DC轉換電路之上或至少兩組逆變器老化測試陣列并聯于AC/DC轉換電路之上;每組逆變器老化測試陣列由2-10個逆變器老化測試單元(4)串聯,再與可調負載(7)串聯而構成;
每組逆變器老化測試單元包括被試逆變器(3)和DC并聯輸出模塊(6),DC并聯輸出模塊輸入端與被試逆變器輸出端連接;
每組逆變器老化測試單元的輸入端和輸出端均設有交流接觸器(5);
在每組逆變器老化測試陣列內:
第一個逆變器老化測試單元的被試逆變器的輸入端與AC/DC轉換電路輸出端連接,剩余的逆變器老化測試單元的被試逆變器的輸入端與前一個逆變器老化測試單元的DC并聯輸出模塊輸出端連接,最后一個DC并聯輸出模塊輸出端分別反饋連接到每一個逆變器老化測試單元DC并聯輸出模塊的輸入端,最后一個DC并聯輸出模塊輸出端同時與可調負載相連。
2.根據權利要求1所述的一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置,其特征在于:所述DC并聯輸出模塊(6)包括AC/DC轉換電路、霍爾電流互感器、電流反饋比較電路、DC/DC轉換電路和電壓反饋比較電路,被試逆變器輸出的工頻電源送至AC/DC轉換電路的輸入端,AC/DC轉換電路的輸出端穿過霍爾電流互感器,霍爾電流互感器輸出信號連接電流反饋比較電路,控制AC/DC轉換電路輸出恒定電流,電流反饋比較電路連接AC/DC轉換電路,使其輸出電流被控制恒定,DC/DC轉換電路的輸出端經防回流二極管至輸出端,電壓反饋比較電路連接輸出端,電壓反饋比較電路輸出端連接DC/DC轉換電路的輸入端。
3.根據權利要求2所述的一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置,其特征在于:所述AC/DC轉換電路采用可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊,組成可控硅移相觸發(fā)整流,其整流形式是單相橋或三相橋,控制方式是半橋或是全橋。
4.根據權利要求3所述的一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置,其特征在于:所述可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊包括:單向可控硅Q1、單向可控硅Q2、PNP三極管Q3、光耦U1、電阻R1-R3、電容器C1,其中,單向可控硅Q1的觸發(fā)極和陽極分別連接單向可控硅Q2的陰極和陽極,單向可控硅Q2的觸發(fā)極連接另一端接輸出端的一電容器C1、經R2連接PNP三極管Q3的集電極,三極管Q3的發(fā)射極連接單向可控硅Q1的陽極,三極管Q3的基極接光耦U1的發(fā)射極,同時經電阻R3接輸出端,光耦U1的集電極連接單向可控硅Q1的陽極。
5.根據權利要求3所述的一種節(jié)能的逆變器老化測試裝置,其特征在于:所述可控硅光耦控制三相半橋移相觸發(fā)AC/DC轉換電路包括三個可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM1-JM3、三個二極管D1-D3、一個霍爾電流互感器HGQ、一個比較器,二極管D1-D3分別與JM1-JM3由正到負串聯,二極管D1-D3的正端為GND,可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM1-JM3的負端連接為正端輸出端,二極管VD0,D1-D3與可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM1-JM3的連接點分別與逆變器輸出端的A、B、C連接,可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM1-JM3的L+、L-順極性串聯,可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM1的L+經電阻R4接輸出端,可控硅光耦控制移相觸發(fā)導通模塊JM3的L-接比較器的集電極輸出端,比較器的+輸入端接基準電壓,比較器的負輸入端接霍爾電流互感器。
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