[實(shí)用新型]一種LED光源高溫長(zhǎng)期光通維持率檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201420649819.6
• 申請(qǐng)日: 2014-11-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN204166113U
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔣衛(wèi)敏;胡旭梁;翟莉芳;章丹楓
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江中博光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/44
• 分類號(hào): G01R31/44
• 代理公司: 浙江英普律師事務(wù)所 33238
• 代理人: 陳俊志

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種LED光源壽命檢測(cè)裝置，特別是一種LED光源高溫長(zhǎng)期光通維持率檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

LED由于具有體積小、耗電量低、堅(jiān)固耐用、使用壽命長(zhǎng)、安全低電壓、低熱量、環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，正在沖擊著傳統(tǒng)照明市場(chǎng)，各個(gè)國(guó)家也都實(shí)施了大量的優(yōu)惠政策進(jìn)行大力的推廣。然而LED燈具的實(shí)際使用壽命，一直是業(yè)界所關(guān)注的重中之重，也是LED在實(shí)際推廣中的決定性所在；由于LED燈具種類繁多，加之壽命測(cè)試時(shí)間周期較長(zhǎng)(測(cè)試時(shí)間至少為6000小時(shí))，如果要對(duì)每個(gè)型號(hào)的LED燈具進(jìn)行壽命的測(cè)試，其成本是相當(dāng)高的。

為此北美照明工程協(xié)會(huì)(IESNA)研究并發(fā)表了IES?LM-80和IES?TM-21兩份標(biāo)準(zhǔn)，LM-80指出了一種LED光源光通維持率的驗(yàn)證方法(6000-10000小時(shí))，而TM-21則是基于LM-80的測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)LED的更長(zhǎng)期的壽命進(jìn)行推算(3萬(wàn)小時(shí)乃至更長(zhǎng)時(shí)間)。

決定LED光衰的決定因素是LED芯片的結(jié)溫，LM-80測(cè)試所用的三個(gè)Ts(外殼溫度，LED封裝光源接觸點(diǎn)上的溫度)溫度點(diǎn)(55℃、85℃、第三個(gè)由制造商選擇)，基本上可以涵蓋LED的實(shí)際使用情況，只要LED在實(shí)際燈具中的實(shí)測(cè)Ts值，便可推算燈具的使用的光通維持率。但由于LED被點(diǎn)亮后，溫度會(huì)急劇升高，從而造成表面和周?chē)諝獬霈F(xiàn)巨大溫差，在燈具測(cè)試過(guò)程中LED環(huán)境設(shè)定溫度需控制在(Ts-5)℃內(nèi)，而LED的殼溫變化控制在(Ts-2)℃，如何既能控制LED周?chē)諝鉁囟龋帜芸刂芓s成為該測(cè)試中的技術(shù)難點(diǎn)。

現(xiàn)有的測(cè)試溫度控制多采用如專利公告號(hào)CN102590763B和CN203299341U所述的方法，即在試驗(yàn)箱內(nèi)安裝制冷器或散熱風(fēng)扇，將LED點(diǎn)亮所產(chǎn)生的熱量隨空氣排出試驗(yàn)箱，再完全由溫度控制系統(tǒng)提供熱能使試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度控制在測(cè)試所需范圍內(nèi)。由于老化測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)(通常在6000小時(shí)左右)，如果采取主動(dòng)式散熱結(jié)構(gòu)，如制冷器或風(fēng)扇散熱，一旦散熱結(jié)構(gòu)在測(cè)試過(guò)程中停止運(yùn)轉(zhuǎn)，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度將由于LED點(diǎn)亮所產(chǎn)生的熱量無(wú)法排出，導(dǎo)致Ts急劇升高，燒壞LED光源使測(cè)試失敗；又由于主動(dòng)式散熱結(jié)構(gòu)需不停轉(zhuǎn)散熱，而LED點(diǎn)亮所產(chǎn)生的熱量又未能被有效利用，傳統(tǒng)試驗(yàn)箱每立方米的設(shè)備額度功率需15kw，整個(gè)測(cè)試過(guò)程成本與耗能巨大。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種檢測(cè)過(guò)程更為穩(wěn)定，且環(huán)保節(jié)能的LED光源高溫長(zhǎng)期光通維持率檢測(cè)裝置和方法。

本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：

一種LED光源高溫長(zhǎng)期光通維持率檢測(cè)裝置，其結(jié)構(gòu)包括試驗(yàn)箱、供電控制器、LED溫度測(cè)試儀、壽命測(cè)試儀和溫度控制系統(tǒng)；所述試驗(yàn)箱內(nèi)設(shè)有測(cè)試位，測(cè)試位上安裝有散熱板，所述LED溫度測(cè)試儀與測(cè)試位連接，所述壽命測(cè)試儀通過(guò)供電控制器與試驗(yàn)箱連接，所述溫度控制系統(tǒng)由設(shè)置在試驗(yàn)箱內(nèi)的環(huán)境溫度檢測(cè)裝置和加熱裝置組成；檢測(cè)過(guò)程中，所述試驗(yàn)箱呈密閉狀態(tài)。通過(guò)在檢測(cè)過(guò)程中設(shè)置密閉試驗(yàn)箱，通過(guò)散熱板將LED光源測(cè)試時(shí)所產(chǎn)生的能量輻射至試驗(yàn)箱內(nèi)從而控制Ts溫度，將主動(dòng)式散熱結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)楸粍?dòng)式散熱結(jié)構(gòu)，利用溫度控制系統(tǒng)實(shí)時(shí)控制試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度，排除了因現(xiàn)有主動(dòng)散熱結(jié)構(gòu)停轉(zhuǎn)而造成測(cè)試失敗的可能性，提高了檢測(cè)裝置的可靠性；并且LED點(diǎn)亮所產(chǎn)生的熱量能夠被保留在試驗(yàn)箱內(nèi)，溫度控制系統(tǒng)在利用LED光源正常工作的熱能基礎(chǔ)上進(jìn)行加熱工作，除去了散熱系統(tǒng)的運(yùn)作成本，本裝置運(yùn)行所需功率僅需現(xiàn)有設(shè)備的1/10～1/3，有效減少測(cè)試成本與耗能。

作為優(yōu)選，所述散熱板上設(shè)有均溫板。基于均溫板的高導(dǎo)熱系數(shù)能夠?qū)ED光源的熱量由點(diǎn)迅速擴(kuò)散成面，可以有效控制Ts溫度，再由散熱板將熱量快速傳遞到空氣中，使環(huán)境溫度檢測(cè)裝置能夠及時(shí)反應(yīng)試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度，加熱裝置及時(shí)調(diào)整從而保證環(huán)境設(shè)定溫度與Ts控制在變化范圍內(nèi)，提高檢測(cè)可靠性。

作為優(yōu)選，所述散熱板上設(shè)有對(duì)流孔或散熱片中的一種或兩種。對(duì)流孔或散熱片的設(shè)置能使LED光源的熱量更快速傳遞到空氣中，使環(huán)境溫度檢測(cè)裝置能夠及時(shí)反應(yīng)試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度，加熱裝置及時(shí)調(diào)整從而保證環(huán)境設(shè)定溫度與Ts控制在變化范圍內(nèi)，進(jìn)一步提高檢測(cè)可靠性。

作為優(yōu)選，所述測(cè)試位均勻分布在試驗(yàn)箱內(nèi)。測(cè)試位的均勻分布能使LED光源輻射至試驗(yàn)箱內(nèi)的熱量更為均勻，既可以使Ts更容易控制，由使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度更為均勻加熱更易控制。

作為優(yōu)選，所述加熱裝置均勻分布在試驗(yàn)箱內(nèi)。在測(cè)試位均勻分布的前提下均勻分布加熱裝置使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度加熱更易控制。