[實用新型]應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420636057.6
• 申請日: 2014-10-22
• 公開（公告）號: CN204165649U
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設計）人: 張勤;李可;鄧艷龍;寧校端;王莉坤;王廣志;王之峰
• 申請（專利權）人: 廊坊開元高技術開發(fā)公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及原子熒光光譜法分析測試領域，尤其涉及應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置。

背景技術

氣體發(fā)生一氫火焰原子熒光光譜法是一種新的聯(lián)用分析技術，也是目前原子熒光光譜分析領域中最有實用價值的分析技術。由于這種方法把無色散原子熒光光譜法測定與氣體進樣的特點完美結(jié)合起來，可獲得砷、銻、鉍、硒、鉛、錫、鍺和汞的較低的檢出限，故已成為Hg、As、Sb、Bi等元素痕量分析的重要方法，在地質(zhì)、環(huán)境科學、生命科學、食品衛(wèi)生、醫(yī)學分析等領域有著廣泛的應用。被檢測元素的激發(fā)光源和熒光波長均在紫外區(qū)，目前原子熒光光譜儀的光路系統(tǒng)均暴露在空氣介質(zhì)中，由于空氣中含有大量的微粒和多種氣體分子，存故存在光的傳輸效率低和“熒光淬滅”效應問題，影響了原子熒光光譜儀的信噪比等技術性能。

實用新型內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術的不足，本實用新型在于提供一種數(shù)字化的控制、自動驅(qū)氣保護、減少光衰減和損耗、提高了光的傳輸效率、有效地改善“熒光淬滅”效應的應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置。

為了解決上述問題，本實用新型是通過以下技術方案實現(xiàn)的：

本實用新型應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置，包括終端計算機、微處理器、流量計、氬氣或氦氣源、A道空心陰極燈、B道空心陰極燈、第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡、屏蔽罩、光電檢測器和原子化器，光電檢測器上設有光電倍增管且光電檢測器位于屏蔽罩內(nèi)，終端計算機連接并控制微處理器，氬氣或氦氣源的輸出端連接流量計的輸入端，微處理器輸出端連接流量計以并控制流量，流量計輸出端連接有7條驅(qū)氣管路，7條驅(qū)氣管路的輸氣端分別位于屏蔽罩頂端以及第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡的前后兩側(cè)處。

進一步，每條驅(qū)氣管路的流量輸出控制在10ml-500ml之間。

與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果是：本實用新型的應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置以數(shù)字化的控制方式，采用氬氣或氦氣作為氣源，在光路系統(tǒng)中設置了7個驅(qū)氣點，使兩A道空心陰極燈和B道空心陰極燈發(fā)出的入射光束、第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡、光電檢測器接收裝置均在氬氣或氦氣介質(zhì)環(huán)境中，減少了光衰減和損耗，提高了光的傳輸效率，并有效地改善“熒光淬滅”效應，提升了儀器的技術性能。

附圖說明

圖1是本實用新型的應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置的示意圖；

圖2是本實用新型的應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置的示意框圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例，對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的范圍。

如圖1-2所示，本實用新型應用于原子熒光光譜儀光路系統(tǒng)的驅(qū)氣技術裝置，包括終端計算機1、微處理器2、流量計3、氬氣或氦氣源4、A道空心陰極燈8、B道空心陰極燈9、第一透鏡10、第二透鏡11、第三透鏡12、屏蔽罩6、光電檢測器和原子化器13，光電檢測器上設有光電倍增管7且光電檢測器位于屏蔽罩6內(nèi)，終端計算機1連接并控制微處理器2，氬氣或氦氣源4的輸出端連接流量計3的輸入端，微處理器2輸出端連接流量計3以并控制流量，流量計3的流量控制在10ml-500ml之間，流量計3輸出端連接有7條驅(qū)氣管路，7條驅(qū)氣管路的輸氣端分別位于屏蔽罩6頂端以及第一透鏡10、第二透鏡11、第三透鏡12的前后兩側(cè)處。本實用新型以數(shù)字化的控制方式，采用氬氣或氦氣作為氣源，在光路系統(tǒng)中設置了7個驅(qū)氣點，使兩A道空心陰極燈和B道空心陰極燈發(fā)出的入射光束、第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡、光電檢測器接收裝置均在氬氣或氦氣介質(zhì)環(huán)境中，減少了光衰減和損耗，提高了光的傳輸效率，并有效地改善“熒光淬滅”效應，提升了儀器的技術性能。