[實(shí)用新型]具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420626098.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204203845U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙曉巖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京同方時(shí)訊電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F1/16 | 分類號(hào): | G06F1/16;G06F12/14;G06F21/32 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 數(shù)據(jù) 安全性 平板 電腦 | ||
1.一種具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦,其特征在于,包括:數(shù)據(jù)自毀裝置;
當(dāng)所述平板電腦遭遇非法開(kāi)啟外殼或破殼的行為時(shí),該數(shù)據(jù)自毀裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)所述平板電腦內(nèi)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)芯片和/或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)的物理性破壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板電腦,其特征在于,所述數(shù)據(jù)自毀裝置包括:
自毀觸發(fā)電路,當(dāng)所述平板電腦遭遇非法開(kāi)啟外殼或破殼的行為時(shí),該自毀觸發(fā)電路觸發(fā)一自毀觸發(fā)信號(hào);
與所述自毀觸發(fā)電路電性連接的自毀執(zhí)行電路,在接收到所述自毀觸發(fā)信號(hào)后,該自毀執(zhí)行電路向所述平板電腦內(nèi)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)芯片和/或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)引入直流脈沖高壓,以實(shí)現(xiàn)對(duì)其的物理性破壞;以及
為所述自毀執(zhí)行電路提供電能的電池供電系統(tǒng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平板電腦,其特征在于,所述自毀觸發(fā)電路包括:若干個(gè)串聯(lián)的位于敏感部位的開(kāi)關(guān);
該開(kāi)關(guān)由上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)構(gòu)成,其中,上觸點(diǎn)位于平板電腦上殼體的一敏感部位,下觸點(diǎn)位于平板電腦下殼體上該敏感部位的相應(yīng)部位,在正常狀態(tài)下,該上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)電接觸,該開(kāi)關(guān)處于閉合狀態(tài),在該敏感部位遭遇非法開(kāi)啟外殼或破殼的行為,該上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)脫離接觸,該開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的平板電腦,其特征在于,所述自毀觸發(fā)電路包括至少3個(gè)所述的開(kāi)關(guān)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的平板電腦,其特征在于,所述敏感部位包括:平板電腦的四個(gè)邊角、側(cè)邊,或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)芯片和/或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)的所在位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平板電腦,其特征在于,所述自毀執(zhí)行電路包括:檢測(cè)模塊、升壓模塊以及脈沖控制模塊;
與自毀觸發(fā)電路連接的檢測(cè)模塊,在未檢測(cè)到自毀觸發(fā)信號(hào)時(shí),該檢測(cè)模塊將電池供電系統(tǒng)與升壓模塊和脈沖控制電路隔離;在接收到自毀觸發(fā)電路的自毀觸發(fā)信號(hào)以后,該檢測(cè)模塊連通電池供電系統(tǒng)與升壓模塊和脈沖控制模塊;
連接至所述檢測(cè)模塊的升壓模塊,在連通電池供電系統(tǒng)后,該升壓模塊產(chǎn)生直流高電壓,并輸出給脈沖控制電路;
連接至所述升壓模塊的脈沖控制模塊,在接收所述升壓模塊輸出的直流高電壓后,該脈沖控制模塊將該直流高電壓轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷髅}沖電壓,加至數(shù)據(jù)存儲(chǔ)芯片及和/或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)的引腳,以實(shí)現(xiàn)對(duì)其的物理性破壞。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的平板電腦,其特征在于,所述檢測(cè)模塊包括:
第十一電阻(R11),其第一端連接至節(jié)點(diǎn)A,第二端連接至電源電壓VBATTERY;
第十二電阻(R12),連接于節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B之間,其中,節(jié)點(diǎn)B接地;
第十一三極管(Q11),其基極通過(guò)第十三電阻(R13)連接至節(jié)點(diǎn)A;其集電極通過(guò)第十四電阻(R14)連接至電源電壓VBATTERY;其發(fā)射極接地;
第十二P溝道MOS管(M12),其G管腳通過(guò)第十五電阻(R15)連接至所述第十一三極管(Q11)的集電極,其S管腳連接至電源VBATTERY;其D管腳連接至檢測(cè)模塊的輸出端;
第十一電容(C11),連接于所述節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B之間;
其中,電源電壓VBATTERY連接至電池供電系統(tǒng)的輸出端;所述節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B連接至自毀觸發(fā)電路的兩輸出端。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的平板電腦,其特征在于,所述升壓模塊包括:
儲(chǔ)能電感(L31),其第一端連接至檢測(cè)模塊的輸入端,第二端通過(guò)二十一二極管(D21)連接至升壓模塊的輸出端;
升壓驅(qū)動(dòng)芯片(U302),為EUP2586芯片,其VIN管腳連接至所述儲(chǔ)能電感(L31)的第一端;SHDN管腳通過(guò)第二十一電阻(R21)連接至檢測(cè)模塊的輸入端,并通過(guò)第二十三電容(C23)接地;SW管腳連接至儲(chǔ)能電感(L31)的第二端;OVP管腳連接至所述二極管(D1)的負(fù)極端;GND管腳接地;
儲(chǔ)能電路,包括并聯(lián)的第二十五電容(C25)和第二十六電容(C26),兩者的第一端連接至升壓模塊的輸出端,第二端接地。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平板電腦,其特征在于,所述升壓模塊還包括:
濾波電路,由并聯(lián)的第二十一電容(C21)和第二十二電容(C22)組成,兩者的第一端共同連接至檢測(cè)模塊的輸入端,第二端接地。
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G06F1-04 .產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)的或分配時(shí)鐘信號(hào)的,或者直接從這個(gè)設(shè)備中得出信號(hào)的
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