[實用新型]顆粒檢測設備

有效

• 申請號: 201420624004.2
• 申請日: 2014-10-24
• 公開（公告）號: CN204165975U
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 管鐵;葉海水;張俊健
• 申請（專利權）人: 中豐田光電科技(珠海)有限公司
• 主分類號: G01N33/34
• 分類號: G01N33/34
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 宋鷹武;沈祖鋒

1.一種顆粒檢測設備，其特征在于，包括調節基座、夾輥組和壓力傳感器，所述夾輥組包括第一夾輥和第二夾輥，所述第一夾輥和所述第二夾輥平行設置，所述第一夾輥的兩端設于所述調節基座上，所述第二夾輥通過所述壓力傳感器設于所述調節基座上。

2.如權利要求1所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述第二夾輥在所述調節基座上的位置可調節。

3.如權利要求1所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述第二夾輥的一端通過所述壓力傳感器設于所述調節基座上，所述第二夾輥的另一端直接設于所述調節基座上。

4.如權利要求3所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述調節基座包括基板和兩個設于所述基板上的立板，每個所述立板開設有第一調節孔，所述壓力傳感器設于一個所述第一調節孔上，所述第二夾輥遠離所述壓力傳感器的一端設于另一個所述第一調節孔上。

5.如權利要求1所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述壓力傳感器為兩個，所述第二夾輥的兩端分別通過一個所述壓力傳感器設于所述調節基座上。

6.如權利要求5所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述調節基座包括基板和兩個設于所述基板上的立板，每個所述立板開設有第一調節孔，兩個所述壓力傳感器分別設于一個所述第一調節孔上。

7.如權利要求1所述的顆粒檢測設備，其特征在于，所述調節基座包括基板和兩個設于所述基板上的立板，每個所述立板開設有第二調節孔，所述第一夾棍的兩端分別設于一個所述第二調節孔上，所述第一夾棍在所述立板上的位置可以調節。

8.如權利要求1所述的顆粒檢測設備，其特征在于，還包括主控制器，所述壓力傳感器和所述主控制器連接。

9.如權利要求8所述的顆粒檢測設備，其特征在于，還包括報警器，所述報警器和所述主控制器連接。