[實用新型]毫米波單片電路芯片的可靠性測試系統

有效

• 申請號: 201420587405.5
• 申請日: 2014-10-11
• 公開（公告）號: CN204142912U
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發明（設計）人: 默江輝;楊中月;李亮;崔玉興;付興昌;蔡樹軍;楊克武
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 米文智

1.一種毫米波單片電路芯片的可靠性測試系統，其特征在于：所述系統包括在片測試模塊和直流饋電模塊，所述在片測試模塊包括單片電路鎢銅載片（1）、第一濾波電容（2）以及第二濾波電容（3），所述第一濾波電容（2）設有四個，圍合成矩形布置在單片電路鎢銅載片（1）上表面的四個角處；所述第二濾波電容（3）設有四個，位于所述第一濾波電容（2）圍合成的矩形內，并圍合成矩形布置在所述單片電路鎢銅載片（1）的中部，第二濾波電容（3）圍合成的矩形內用于放置被測試的毫米波單片電路芯片（4），所述第一濾波電容（2）的一端設有金屬引出線（5），第一濾波電容（2）的另一端通過鍵合金絲（6）與與其距離最接近的第二濾波電容（3）的一端相連接，所述第二濾波電容（3）的另一端為與被測試的毫米波單片電路芯片（4）的連接端；所述直流饋電模塊包括銅支撐件（7）、側面銅片（8）以及穿心電容（9），所述側面銅片（8）設有四個，分別焊接在所述銅支撐件（7）的四個角處，每個側面銅片（8）上設有一個穿心電容（9），所述穿心電容（9）的一端懸空，另一端與放置在銅支撐件（7）上表面在片測試模塊第一濾波電容（2）上的金屬引出線（5）連接；第二濾波電容（3）上設有直流探針接觸點（10），第一濾波電容（2）的電極面積大于鍵合金絲（6）直徑的兩倍，距離第二濾波電容（3）大于3mm。

2.根據權利要求1所述的毫米波單片電路芯片的可靠性測試系統，其特征在于：所述單片電路鎢銅載片（1）上設有過孔，所述在片測試模塊通過螺栓固定在直流饋電模塊的銅支撐件（7）的上表面。