[實用新型]一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置

有效

• 申請號: 201420575871.1
• 申請日: 2014-09-30
• 公開（公告）號: CN204202531U
• 公開（公告）日: 2015-03-11
• 發明（設計）人: 李桂玲
• 申請（專利權）人: 彩虹顯示器件股份有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02;G01B5/24
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 陸萬壽

1.一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：包括底部檢測裝置和放置部位檢測裝置，底部檢測裝置包括相互垂直設置的第一測量桿(1)和第二測量桿(2)，第一測量桿(1)和第二測量桿(2)的形成L形測量架，第一測量桿(1)和第二測量桿(2)均為中空結構，第一測量桿(1)和第二測量桿(2)的空腔內分別設置有第一測量尺(3)和第二測量尺(4)，第一測量尺(3)和第二測量尺(4)能夠分別在第一測量桿(1)和第二測量桿(2)的空腔中抽拉移動，第一測量尺(3)和第二測量尺(4)的中心線分別與第一測量桿(1)和第二測量桿(2)的中心線重合，第一測量桿(1)和第二測量桿(2)上的刻度的零點均為兩者相交內側的拐角點處，第一測量尺(3)和第二測量尺(4)的零點均位于兩者的最外端；

所述的放置部位檢測裝置包括相互轉動連接的放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)，以及用于測量底部高度的測量尺(12)，放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)為中空結構，空腔內分別設置有能夠抽拉移動的放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)，放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)的中心線分別與放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)的中心線重合，放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)的刻度零點均從連接的最底端開始，放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)的零點均位于兩者的最外端，所述的放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)上均設置有角度測量規(11)，用于測量A型架放置面和背面的角度。

2.根據權利要求1所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的第一測量尺(3)、第二測量尺(4)、放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)的最外端均設置為倒勾結構，便于卡住測量面的邊部。

3.根據權利要求2所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的放置面刻度尺(8)的倒勾結構上設置有放置面基準劃線，便于測量尺(12)的零點對齊。

4.根據權利要求2所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的第一測量桿(1)、第二測量桿(2)、放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)上均設置有手輪(5)，手輪(5)上固定連接有螺桿，第一測量桿(1)、第二測量桿(2)、放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)上均設置有對應的螺孔，手輪(5)帶動螺桿伸入空腔內，能夠通過擰動手輪固定或松開第一測量尺(3)、第二測量尺(4)、放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)。

5.根據權利要求4所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的第一測量桿(1)和第二測量桿(2)通過手輪(5)連接在一起，手輪(5)的螺桿穿過第一測量桿(1)和第二測量桿(2)的螺孔，手輪(5)擰緊將兩者固定。

6.根據權利要求5所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的放置面測量桿(6)和背部測量桿(7)通過鉸鏈(10)連接，能夠實現相對轉動。

7.根據權利要求1～6任一項所述的一種TFT基板玻璃A型架檢驗裝置，其特征在于：所述的角度測量規(11)為指針或數顯式角度規。