[實用新型]一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺有效
| 申請號: | 201420568921.3 | 申請日: | 2014-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN204269558U | 公開(公告)日: | 2015-04-15 |
| 發明(設計)人: | 彭冠云;肖體喬;謝紅蘭;鄧彪;杜國浩;佟亞軍;薛艷玲 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海應用物理研究所 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84;G01N23/04 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 鄧琪 |
| 地址: | 201800 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 同步 輻射 射線 顯微 ct 成像 樣品 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺。
背景技術
利用現有的同步輻射X射線顯微CT(計算機斷層掃描)成像樣品臺進行同步輻射X射線顯微CT成像時,通常直接將樣品固定在位移臺的表面,通過調節旋轉臺和位移臺,確定樣品在光路上,旋轉180°并且確保在旋轉過程中樣品放置穩固而發生不移動,然后采集圖影。根據實驗的要求,需要選擇樣品與CCD(電荷耦合器件)的合適距離。然而,現有的位移臺安裝在旋轉臺上,樣品直接固定在位移臺的表面,由于位移臺上還設有兩個電極,因此使得樣品與CCD的距離無法小于電極長度,所以無法滿足一些實驗對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
實用新型內容
本實用新型提供一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺,使得樣品與CCD的距離更加靈活可調,滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
為解決上述問題,本實用新型采用的技術方案為:
一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺,包括安裝在旋轉臺上的位移臺,所述樣品臺還包括垂直于所述位移臺的表面向外延伸的延長裝置;所述延長裝置包括固定于所述位移臺的表面上的基座,用于承載樣品的支架,以及連接在所述基座和所述支架之間的支撐棒。
所述支架包括一端與所述支撐棒連接的插桿,所述插桿的另一端具有用于承載樣品的承載面。
所述支撐棒具有用于容納所述插桿的中心孔,以及與所述插桿的直徑相匹配的可旋縮口。
所述支架為闊面樣品支架,所述闊面樣品支架的承載面為平面,并且所述闊面樣品支架的所述承載面的直徑大于所述闊面樣品支架的所述插桿的直徑。
所述支架為半球凹面樣品支架,所述半球凹面樣品支架的承載面為凹面,并且所述半球凹面樣品支架的所述承載面的直徑等于所述半球凹面樣品支架的所述插桿的直徑。
所述支架為調整用樣品支架,所述調整用樣品支架的插桿包括至少一段彈簧。
所述調整用樣品支架的承載面為平面,并且所述調整用樣品支架的所述承載面的直徑大于所述調整用樣品支架的所述插桿的直徑。
所述調整用樣品支架的承載面為凹面,并且所述調整用樣品支架的所述承載面的直徑等于所述調整用樣品支架的所述插桿的直徑。
所述基座與所述支撐棒通過螺紋連接。
所述基座與所述位移臺通過螺紋連接。
本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺,通過垂直于位移臺的表面向外延伸的延長裝置使得樣品與CCD的距離更加靈活可調,滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
附圖說明
圖1是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的基座和支撐棒的組合狀態示意圖;
圖2是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的基座的示意圖;
圖3是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的支撐棒的示意圖;
圖4是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的闊面樣品支架的示意圖;
圖5是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的半球凹面樣品支架的示意圖;
圖6是本實用新型的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的調整用樣品支架的示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖給出本實用新型較佳實施例,以詳細說明本實用新型的技術方案。
本實用新型提供一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺,其包括安裝在旋轉臺上的位移臺(未示出),以及垂直于該位移臺的表面向外延伸的延長裝置。如圖1-圖6所示,延長裝置包括基座1,支撐棒2和支架3、4、5,其中,基座1固定于位移臺的表面上,支架3、4、5用于承載樣品,支撐棒2連接在基座1和支架3、4、5之間。
圖1示出處于組合狀態的基座1和支撐棒2。如圖2所示,基座1包括用于與支撐棒2螺紋連接的螺紋孔11以及用于與位移臺螺紋連接的螺紋孔12。如圖3所示,支撐棒2具有中心孔21,用于容納支架3、4、5的插桿31、41、51,支撐棒2還具有與插桿31、41、51的直徑相匹配的可旋縮口22,以便將插桿31、41、51鎖緊固定。支撐棒2的長度可以根據實驗要求進行設置,例如在一個實施例中,支撐棒2的長度為72mm。
圖4、5分別示出可拆卸和可替換的闊面樣品支架3和半球凹面樣品支架4。
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