[實用新型]超高頻電子標簽測試設備

有效

• 申請號: 201420560081.6
• 申請日: 2014-09-26
• 公開（公告）號: CN204116490U
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 許愛軍
• 申請（專利權）人: 深圳市金瑞銘科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種超高頻電子標簽測試設備，包括輸入輸出設備，其特征在于，還包括依次連接的測試暗箱、射頻連接饋線、衰減器及與所述輸入輸出設備連接的測試主機，所述測試暗箱內設有測試天線、吸波材料層以及測試面板，所述吸波材料層鋪設于所述測試暗箱的內壁，所述射頻連接饋線與所述測試天線通過射頻接口連接。

2.根據權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試天線設置于所述測試暗箱內的頂部，所述測試面板設置于所述測試暗箱內的底部。

3.根據權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試天線與所述測試暗箱的箱體之間、所述測試暗箱的箱體與所述射頻連接饋線之間、所述射頻連接饋線與所述衰減器之間、所述衰減器與所述測試主機之間均通過射頻接口連接。

4.根據權利要求3所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述射頻接口為SMA射頻接口。

5.根據權利要求3或4所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試主機設有支持ISO?18000-6C協議的超高頻讀寫器，所述超高頻讀寫器與所述測試主機上的射頻接口接所述衰減器。

6.根據權利要求3或4所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述衰減器具有匹配電路，該匹配電路接于所述衰減器上的兩個射頻接口之間。

7.根據權利要求1至4任一項所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述輸入輸出設備包括顯示器，所述測試主機具有VGA接口，所述測試主機通過該VGA接口接所述顯示器。

8.根據權利要求7所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述輸入輸出設備還包括鼠標和鍵盤，所述測試主機具有USB接口，所述測試主機通過該USB接口接所述鼠標和鍵盤。

9.根據權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試暗箱設有門板及背板，所述門板及所述背板分別設置于所述測試暗箱的兩個相對側壁。

10.根據權利要求9所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述門板開設于所述測試暗箱其中一側壁與底板相接的部分。