[實用新型]背光監控裝置

有效

• 申請號: 201420553752.6
• 申請日: 2014-09-25
• 公開（公告）號: CN204231358U
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 穆磊;李巖
• 申請（專利權）人: 武漢電信器件有限公司
• 主分類號: H04B10/077
• 分類號: H04B10/077
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 張瑾

技術領域

本實用新型涉及一種背光監控裝置，屬于光通信領域。

背景技術

現在，光通信業務發展迅速，光模塊在其中起到的作用也越來越重要。在實際應用中，光模塊發射和接收光功率的大小對于系統能否正常運行起到了至關重要的作用，因此，越來越多的系統上需要光模塊具有數字診斷監控功能，以便能有效的對光模塊發射和接收光功率進行監控，在系統出現故障時，可以提高解決問題的效率。

為了實現對光模塊發射和接收功率進行監控，首先需要對光器件背光電流進行監控，以便檢測光模塊實際發射和接收功率，而目前的光器件上設置的背光監控元件的精度較低，導致其監控誤差較大。

因此有必要設計一種背光監控裝置，以克服上述問題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術之缺陷，提供了一種監控精度較高的背光監控裝置。

本實用新型是這樣實現的：

本實用新型提供一種背光監控裝置，包括激光器、探測器、電源、單片機、四個晶體管和兩個取樣電阻；四個晶體管分別為第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管以及第四晶體管，兩個取樣電阻分別為第一取樣電阻和第二取樣電阻；所述激光器連接至第一晶體管，第一晶體管連接至第二晶體管，第二晶體管連接至第一取樣電阻，第一取樣電阻連接至所述單片機；所述探測器連接至第三晶體管，第三晶體管連接至第四晶體管，第四晶體管連接至第二取樣電阻，第二取樣電阻連接至所述單片機；其中，第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管以及第四晶體管均連接至所述電源。

進一步地，所述第一晶體管和所述第二晶體管相同。

進一步地，所述第三晶體管和所述第四晶體管相同。

進一步地，所述激光器至所述第一晶體管之間的電流與所述第二晶體管至所述第一取樣電阻之間的電流相同。

進一步地，所述探測器至所述第三晶體管之間的電流與所述第四晶體管至所述第二取樣電阻之間的電流相同。

本實用新型具有以下有益效果：

所述第一晶體管采集到激光器的背光電流以后，通過第一取樣電阻轉換，輸出給單片機，從而實現對發射光功率的監控；而探測器接收到光功率之后，通過第三晶體管和第四晶體管將電流通過所述第二取樣電阻輸出給單片機，實現對接收光功率的監控。所述背光監控裝置通過上述結構可實現對光器件背光電流進行監控，并且監控精度高。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為本實用新型實施例提供的背光監控裝置的原理框圖。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

如圖1，本實用新型實施例提供一種背光監控裝置，包括激光器、探測器、電源、單片機、四個晶體管和兩個取樣電阻。定義四個晶體管分別為第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管以及第四晶體管，兩個取樣電阻分別為第一取樣電阻和第二取樣電阻。

如圖1，所述激光器連接至第一晶體管，第一晶體管連接至第二晶體管，第二晶體管連接至第一取樣電阻，第一取樣電阻連接至所述單片機。所述探測器連接至第三晶體管，第三晶體管連接至第四晶體管，第四晶體管連接至第二取樣電阻，第二取樣電阻連接至所述單片機；其中，第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管以及第四晶體管均連接至所述電源。

如圖1，在本較佳實施例中，所述第一晶體管和所述第二晶體管相同；所述激光器至所述第一晶體管之間的電流與所述第二晶體管至所述第一取樣電阻之間的電流相同。所述第三晶體管和所述第四晶體管相同；所述探測器至所述第三晶體管之間的電流與所述第四晶體管至所述第二取樣電阻之間的電流相同。