[實用新型]半導體元件焊線檢驗工裝有效
| 申請號: | 201420541067.1 | 申請日: | 2014-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN204088273U | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發明(設計)人: | 郝興旺;劉路明 | 申請(專利權)人: | 常州銀河世紀微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 常州市天龍專利事務所有限公司 32105 | 代理人: | 夏海初 |
| 地址: | 213022 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 元件 檢驗 工裝 | ||
1.一種半導體元件焊線檢驗工裝,其特征在于:包括底座(1)、第一凸條(2)、第二凸條(3)和透明玻璃板(4),所述第一凸條(2)和第二凸條(3)分開布置在底座(1)的兩側,且分別與底座(1)通過柱孔定位副相配裝,底座(1)與第一凸條(2)和第二凸條(3)相配裝后,在第一凸條(2)與第二凸條(3)之間有用于容納半導體元件的空腔(5);所述透明玻璃板(4)的兩側分別與第一凸條(2)和第二凸條(3)連接,所述透明玻璃板(4)有用來通過夾持工具滑移半導體元件的通道(6)。
2.根據權利要求1所述的半導體元件焊線檢驗工裝,其特征在于:所述底座(1)分別與第一凸條(2)和第二凸條(3)的柱孔定位副相配裝,是在所述底座(1)的兩側均設有2個有間距布置的定位柱(1-1),第一凸條(2)設有2個有間距布置的第一定位孔(2-1),第二凸條(3)設有2個有間距布置的第二定位孔(3-1);所述底座(1)一側的2個定位柱(1-1)與第一凸條(2)的2個第一定位孔(2-1)定位相配裝;所述底座(1)另一側的2個定位柱(1-1)與第二凸條(3)的2個第二定位孔(3-1)定位相配裝。
3.根據權利要求1所述的半導體元件焊線檢驗工裝,其特征在于:所述透明玻璃板(4)的兩側分別與第一凸條(2)和第二凸條(3)的連接,是分別通過粘接劑與第一凸條(2)和第二凸條(3)連接的;或者所述底座(1)的兩側均設有2個有間距布置的定位柱(1-1),第一凸條(2)設有2個有間距布置的第一定位孔(2-1),第二凸條(3)設有2個有間距布置的第二定位孔(3-1),所述透明玻璃板(4)的一側設有2個安裝孔(4-1),而其另一側設有1個安裝孔(4-1);所述底座(1)一側的2個定位柱(1-1)與第一凸條(2)的2個第一定位孔(2-1)以及與透明玻璃板(4)一側的2個安裝孔(4-1)定位相配裝;所述底座(1)另一側的2個定位柱(1-1)與第二凸條(3)的2個第二定位孔(3-1)定位相配裝,以及底座(1)另一側的2個定位柱(1-1)中的1個定位柱與透明玻璃板(4)另一側的1個安裝孔(4-1)定位相配裝,而實現透明玻璃板(4)兩側分別與第一凸條(2)和第二凸條(3)連接的。
4.根據權利要求1至3之一所述的半導體元件焊線檢驗工裝,其特征在于:所述底座(1)的一端有與其互為一體的用來方便半導體元件滑移的坡道(1-2)。
5.根據權利要求1至3之一所述的半導體元件焊線檢驗工裝,其特征在于:所述第一凸條(2)內壁的底下部位且沿長度方向有第一卡槽(2-2),第二凸條(3)內壁的底下部位且沿長度方向有第二卡槽(3-2),且第一卡槽(2-2)與第二卡槽(3-2)是呈對稱布置的。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





