[實用新型]對元素硫的垢下腐蝕進行測試的電化學設備

有效

• 申請號: 201420538170.0
• 申請日: 2014-09-18
• 公開（公告）號: CN204116272U
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 閆靜;莫林;谷壇;張強;袁曦;劉志德;霍紹全;余華利
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N27/416
• 分類號: G01N27/416
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 劉映東

1.一種對元素硫的垢下腐蝕進行測試的電化學設備，其特征在于，所述電化學設備包括：主體、上蓋、下蓋、固定螺栓、參比電極、輔助參比電極、工作電極、進氣管和出氣管；

所述主體通過所述固定螺栓固定安裝在所述上蓋和所述下蓋之間，所述上蓋位于所述下蓋的正上方，所述參比電極、所述輔助參比電極、所述進氣管和所述出氣管均按照從上至下的方向穿過所述上蓋插入所述主體內，所述工作電極按照從下至上的方向穿過所述下蓋插入所述主體內，通過在所述工作電極插入所述主體內的一端涂覆元素硫進行垢下腐蝕的測試。

2.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述電化學設備還包括：上墊圈和下墊圈；

相應地，所述上蓋包括上墊圈槽，所述下蓋包括下墊圈槽；

所述上墊圈安裝在所述上墊圈槽內，所述下墊圈安裝在所述下墊圈槽內，所述上墊圈槽的內徑與所述下墊圈槽的內徑相等，所述上墊圈槽的外徑與所述下墊圈槽的外徑相等，所述主體的內徑大于或等于所述上墊圈槽的內徑，且所述主體的外徑小于或等于所述上墊圈槽的外徑。

3.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述上蓋還包括：參比電極套、第一密封圈、輔助參比電極套、第二密封圈、參比電極插孔、輔助參比電極插孔、進氣管插孔和出氣管插孔，且所述第一密封圈的外徑大于所述參比電極插孔的下孔徑，所述第二密封圈的外徑大于所述輔助參比電極插孔的下孔徑；

所述第一密封圈固定在所述參比電極插孔與所述參比電極套之間，所述參比電極套的外側為螺紋結構，且所述參比電極套的下孔所在的平面、所述第一密封圈所在的平面和所述參比電極插孔的下孔所在的平面依次設置且相互平行；

所述第二密封圈固定在所述輔助參比電極插孔與所述輔助參比電極套之間，所述輔助參比電極套的外側為螺紋結構，且所述輔助參比電極套的下孔所在的平面、所述第二密封圈所在的平面和所述輔助參比電極插孔的下孔所在的平面依次設置且相互平行；

所述進氣管穿過所述進氣管插孔插入所述主體內，所述出氣管穿過所述出氣管插孔插入所述主體內。

4.如權利要求3所述的電化學設備，其特征在于，所述進氣管插孔和所述出氣管插孔位于所述參比電極插孔的兩側且對稱分布，所述輔助參比電極插孔位于所述進氣管插孔與所述出氣管插孔之間的中軸線上，且所述輔助參比電極插孔和所述參比電極插孔位于同一直線上。

5.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述下蓋包括：工作電極套、第三密封圈和工作電極插孔，且所述第三密封圈的外徑大于所述工作電極插孔的上孔徑；

所述第三密封圈固定在所述工作電極插孔與所述工作電極套之間，所述工作電極套的外側為螺紋結構，且所述工作電極套的上孔所在的平面、所述第三密封圈所在的平面和所述工作電極插孔的上孔所在的平面依次設置且相互平行。

6.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述工作電極包括：待測金屬試樣、銅導線和工作電極外包，所述待測金屬試樣包括兩個側面；

所述銅導線垂直焊接在所述待測金屬試樣的一個側面上，所述銅導線和所述待測金屬試樣均位于所述工作電極外包內，且所述待測金屬試樣的另一個側面與所述工作電極外包的端口位于同一平面。

7.如權利要求6所述的電化學設備，其特征在于，在所述待測金屬試樣與所述工作電極外包的端口接觸處涂覆密封膠。

8.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述主體、上蓋和下蓋的材料均為聚乙烯，所述固定螺栓的材料為碳鋼。

9.如權利要求1所述的電化學設備，其特征在于，所述主體內所述進氣管的長度為所述主體高度的2/3。