[實用新型]波導耦合器外形高度差自動測量用夾具

有效

• 申請號: 201420514758.2
• 申請日: 2014-09-09
• 公開（公告）號: CN204149056U
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發明（設計）人: 張大榮;楊建華;梁基富;梁國春;殷實;江順喜
• 申請（專利權）人: 江蘇貝孚德通訊科技股份有限公司
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00;G01B21/02
• 代理公司: 無錫大揚專利事務所(普通合伙) 32248
• 代理人: 郭豐海

1.波導耦合器外形高度差自動測量用夾具，包括底座（1），其特征在于底座（1）一邊上面有豎架（3），豎架（3）的豎向中間有至少兩個向前突出的支撐架（4），豎架（3）頂部有向前突出的固定架（16），固定架（16）上有氣缸（8），氣缸（8）的活塞桿（7）外端朝下并連有壓盤（11），壓盤（11）周向有桿孔；壓盤（11）之下有測試盤（13），測試盤（13）周向有螺孔，所述螺孔與壓盤（11）上的桿孔數量相等且對應，相應的螺孔和桿孔內有滑軸（6），滑軸（6）上端有橫向擋頭，滑軸（6）下端從壓盤（11）上方穿過壓盤（11）上的桿孔后旋入測試盤（13）上的螺孔內，其中，壓盤（11）與測試盤（13）間的那段滑軸（6）上套有彈簧（12）；測試盤（13）四周連有至少兩個橫臂（14），橫臂（14）外端有測微計（5）及探針，所述探針呈豎向布置且其外端朝下；所述支撐架（4）上有用于安放被測波導耦合器的支撐塊（16），支撐塊（16）上面有用于對被測波導耦合器進行定位的定位柱（15）。

2.根據權利要求1所述的波導耦合器外形高度差自動測量用夾具，其特征在于所述測微計（5）及探針的數量與被測波導耦合器的測試點數量匹配。

3.根據權利要求1所述的波導耦合器外形高度差自動測量用夾具，其特征在于所述測微計（5）及探針有四個，該四個測微計及探針與被測波導耦合器處于不同高度的四個點相對應。

4.根據權利要求1所述的波導耦合器外形高度差自動測量用夾具，其特征在于所述氣缸（8）兩側均有滑套（9），活塞桿（7）兩側均有導桿（10），兩導桿（10）的下端均固定在所述壓盤（11）上，兩導桿（10）上端分別呈滑動狀伸入所述滑套（9）內。

5.根據權利要求1~4中任一項所述的波導耦合器外形高度差自動測量用夾具，其特征在于所述底座（1）為板狀，其上表面上有用于支撐被測波導耦合器的支柱（2）。