[實用新型]一種聚焦圓環(huán)及刻蝕反應腔有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420503058.3 | 申請日: | 2014-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN204243008U | 公開(公告)日: | 2015-04-01 |
| 發(fā)明(設計)人: | 鄧必文;呂煜坤;朱駿;張旭升 | 申請(專利權)人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01J37/32 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 201203 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 聚焦 圓環(huán) 刻蝕 反應 | ||
技術領域
本實用新型屬于半導體領域,尤其涉及半導體中干法刻蝕反應腔中的聚焦圓環(huán)及刻蝕反應腔。
背景技術
在半導體行業(yè),干法刻蝕是一種普遍運用的制造工藝。在干法刻蝕反應腔中有一部件為聚焦圓環(huán),材質(zhì)和晶圓一樣,為單晶硅,安裝在晶圓背面的下電極基座邊緣,如圖1所示,起到增大晶圓面積,提高晶圓刻蝕均勻度的作用。如圖1,反應腔100的基本構造為,晶圓110位于上電極120和下電極130之間,電極之間為離子轟擊140,晶圓110放在下電極130上被刻蝕,而聚焦圓環(huán)150設置在下電極130的背面。在刻蝕過程中晶圓110和聚焦圓環(huán)150的溫度會升高,從而破環(huán)溫度穩(wěn)定性,不利于刻蝕過程,因此下電極中可設置有循環(huán)冷卻液體用于降溫,而導熱膠的設置就是為了快速地使得聚焦圓環(huán)和下電極進行熱交換,控制溫度的穩(wěn)定。然而現(xiàn)有技術中,導熱膠的安裝需要使用導熱膠治具,而治具需要定期更換,因此不僅結構復雜麻煩而且效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的技術目的之一在于提供一種結構簡單的聚焦圓環(huán),其特征在于,在圓環(huán)下表面設置有至少一個凹槽,用以放置導熱膠。
作為本實用新型的可選實施例,凹槽形狀可根據(jù)相應導熱膠的形狀而定。
作為本實用新型的可選實施例,凹槽深度為0.2mm-0.5mm,寬度為16.4mm-16.8mm。
本實用新型的另一技術目的在于提供一種刻蝕反應腔,包括腔體,上下電極和聚焦圓環(huán),所述聚焦圓環(huán)設置在所述下電極邊緣,其特征在于:在所述聚焦圓環(huán)下表面設置有至少一個凹槽,用以放置導熱膠。
本實用新型的有益效果是,由于聚焦圓環(huán)本身設置有凹槽,導熱膠可直接放置在凹槽中,從而省去了專門的導熱膠治具,節(jié)約了成本,而且,安裝也變得非常簡單快捷。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有技術干法刻蝕反應腔示意圖;
圖2為本實用新型的聚焦圓環(huán)示意圖;
圖3為本實用新型帶有導熱膠后的聚焦圓環(huán)示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作詳細描述。但需要指出的是,以下實施例僅是作為對本實用新型的說明性而非限制性描述,因此任何基于這些具體實施例的其他變異,變型,改進,替換,延伸均應落入本實用新型的保護范圍。
如圖2所示,本實用新型所述的聚焦圓環(huán)150的下表面1510上設置有6個凹槽1520,每個凹槽寬度為16.4mm-16.8mm,深度為0.2mm-0.5mm。當然,凹槽的個數(shù),寬度和深度可根據(jù)具體情況而定。圖3是當導熱膠已經(jīng)安裝進相應凹槽后的示意圖,導熱膠為1530。
在現(xiàn)有技術中,導熱膠的安裝需要有一個安裝治具(治具上設置有導熱膠凹槽),即需要將導熱膠安放在治具上,然后再把聚焦圓環(huán)放置在治具上,按壓10分鐘左右,去掉導熱膠覆蓋膜,使其可以充分地交換聚焦圓環(huán)和下電極之間的熱量。而本實用新型由于圓環(huán)本身設置有導熱膠凹槽,從而無需借助任何治具,也省去了上述繁瑣的過程,整個安裝過程只需要幾分鐘,大大節(jié)省了時間和人力。
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