[實用新型]一種直插式LED的檢測治具

有效

• 申請號: 201420501721.6
• 申請日: 2014-09-02
• 公開（公告）號: CN204085386U
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 劉天明;謝少波
• 申請（專利權）人: 木林森股份有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司 44215
• 代理人: 劉克寬

技術領域

?本發明創造涉及LED檢測治具技術領域，具體涉及一種能夠檢測出直插式LED淺插現象的檢測治具。

背景技術

在直插式LED封膠過程中，支架在插入模條的模粒時，由于支架未插入到位或者卡住支架的卡槽松動，導致支架反彈，或者卡槽太緊，導致支架下壓不下，或者支架的彎曲變形等諸多因素，均會導致大量直插式LED產生淺插缺陷，具有淺插缺陷的LED，由于碗杯與晶片位置未達到設計位置，將造成光學處理不合格，使LED的出光角度變小，導致軸向光強度的增加，進而使同一光強度等級的LED合格率降低，并且淺插缺陷還將造成支架卡點和燈頂尺寸不合格，待后續將LED組裝到?PCB?板上會出現高低不一致現象，對后續組裝燈的質量和生產效率都有較大的影響，因此必須對封膠后的直插式LED進行檢測，以防止具有先插缺陷的產品流入市場或進入后續組裝。

現有技術中，對封膠后的直插式LED一般直接采用數顯卡尺進行淺插檢測，數顯卡尺操作起來較為復雜，效率較低，并且易于損壞，成本較高，尤其對于同型號大批量生產的產品，采用數顯卡尺進行檢測勞動強度大，檢測速度慢，檢測效率低。

發明內容

本發明創造的目的在于避免現有技術中的上述不足之處而還提供一種直插式LED的檢測治具，該檢測治具能夠實現快速、高效地檢測出產品的淺插缺陷，提高產品良品率，并且該檢測治具結構簡單，成本低，使用方便。

本發明創造的目的通過以下技術方案實現：

提供了一種直插式LED的檢測治具，包括治具本體，所述治具本體開設有貫通所述治具本體的第一開口凹槽和第二開口凹槽，所述第一開口凹槽與所述第二開口凹槽呈階梯設置，所述第一開口凹槽的槽深大于所述第二開口凹槽的槽深，所述第一開口凹槽的槽深不小于直插式LED的圓形透鏡的最大直徑，所述第二開口凹槽的槽深不小于直插式LED的支架的厚度，所述第一開口凹槽的槽寬與所述第二開口凹槽的槽寬之和等于直插式LED的設計高度，所述第一開口凹槽的槽寬不小于直插式LED的圓形透鏡的高度。

其中，所述第一開口凹槽與所述第二開口凹槽均為矩形凹槽。

其中，所述治具本體的形狀為長方體。

其中，所述治具本體設置為膨脹系數小的金屬治具本體。

其中，所述第一開口凹槽與所述第二開口凹槽均沿所述治具本體的長度方向開設。

其中，所述治具本體開設于用于固定所述治具本體的固定孔。

本發明創造的有益效果：

本發明創造的一種直插式LED的檢測治具，包括治具本體，治具本體開設有貫通治具本體的第一開口凹槽和第二開口凹槽，第一開口凹槽與第二開口凹槽呈階梯設置，第一開口凹槽的槽深不小于直插式LED的圓形透鏡的最大直徑，第二開口凹槽的槽深不小于直插式LED的支架的厚度，第一開口凹槽的槽寬與第二開口凹槽的槽寬之和等于直插式LED的設計高度，第一開口凹槽的槽寬不小于直插式LED的圓形透鏡的高度。對封膠后、全切作業之前的整排直插式LED進行淺插檢測，將整排直插式LED從第一開口凹槽和第二開口凹槽的任一側插入，其中，整排直插式LED的圓形透鏡插入第一開口凹槽，整排直插式LED的支架插入第二開口凹槽，若整排直插式LED能夠順利通過第一開口凹槽和第二開口凹槽，并從第一開口凹槽和第二開口凹槽的另一側滑出，則判斷該整排直插式LED無淺插缺陷，否則則判斷其具有淺插缺陷，從而可以快速、高效的將具有淺插缺陷的直插式LED檢測出來。相對于現有技術，本發明創造的檢測治具能夠快速、高效地檢測出具有淺插缺陷的產品，提高產品良品率和檢測效率，并且該檢測治具還具有結構簡單、加工成本低、使用方便的特點。

附圖說明

利用附圖對發明創造作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本發明創造的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。

圖1是本發明創造的一種直插式LED的檢測治具的結構示意圖。

圖2是本發明創造的一種直插式LED的檢測治具使用時的結構示意圖。

附圖標記：

1-??治具本體，

2-??第一開口凹槽，

3-??第一開口凹槽，

4-??固定孔，

5-??直插式LED。

具體實施方式

結合以下實施例對本發明創造作進一步描述。