[實(shí)用新型]閃存芯片測(cè)試架

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201420498131.2
• 申請(qǐng)日: 2014-08-29
• 公開（公告）號(hào): CN204102121U
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳任佳;陳海
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市嘉合勁威電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F12/02
• 分類號(hào): G06F12/02
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 謝志為

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種閃存芯片的測(cè)試架。?

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)只能對(duì)閃存芯片一個(gè)一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，不能對(duì)較大數(shù)量的閃存芯片同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。?

實(shí)用新型內(nèi)容

鑒于以上，有必要提供一種能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)閃存芯片同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的閃存芯片測(cè)試架。?

一種閃存芯片測(cè)試架，包括一第一測(cè)試板及一第二測(cè)試板，第一測(cè)試板與第二測(cè)試板上均裝設(shè)有若干排插接座，每一排插接座包括若干個(gè)插接座，每一個(gè)插接座上插接有一測(cè)試座，每一測(cè)試座上能夠安裝一閃存芯片，第一測(cè)試板的一側(cè)與第二測(cè)試板的一側(cè)均裝設(shè)有若干電源接口與若干USB接口，每一電源接口能夠與一外部電源線相連以給對(duì)應(yīng)的一排插接座供電，每一USB接口能夠向外傳輸對(duì)應(yīng)的一排插接座上的測(cè)試座上的閃存芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)，第一測(cè)試板與第二測(cè)試板上均裝設(shè)有若干個(gè)開關(guān)，每一開關(guān)與一對(duì)應(yīng)的插接座電連接，用以控制對(duì)應(yīng)的插接座上的測(cè)試座的通電與斷電，該第一測(cè)試板與第二測(cè)試板的電源接口及USB接口均朝向同一方向，該第二測(cè)試板的高度與該第一測(cè)試板的高度不同。?

優(yōu)選地，所有?USB接口通過數(shù)據(jù)線連接于一電腦。?

優(yōu)選地，該第一測(cè)試板遠(yuǎn)離第二測(cè)試板的一側(cè)的兩端的底部分別連接有一第一支撐腳，該第二測(cè)試板的底部于四角處分別連接有一第二支撐腳，第二支撐腳的高度大于第一支撐腳的高度，第二測(cè)試板靠近第一測(cè)試板的一側(cè)的兩第二支撐腳穿過并固定于該第一測(cè)試板，使第一測(cè)試板的電源接口及USB接口位于第二測(cè)試板的下方。?

優(yōu)選地，每一第二支撐腳包括一第一支撐柱、連接于第二測(cè)試板的底部并滑動(dòng)地收容于第一支撐柱的一第二支撐柱及一螺絲，每一螺絲穿過對(duì)應(yīng)的第一支撐柱并頂緊對(duì)應(yīng)的第二支撐柱以將第二支撐柱固定，第二測(cè)試板靠近第一測(cè)試板的一側(cè)的兩第二支撐柱穿過并固定于該第一測(cè)試板。?

優(yōu)選地，每一第一支撐腳與每一第一支撐柱的底部均裝設(shè)有一吸盤。?

優(yōu)選地，每一第一支撐柱的頂部沿軸向向下設(shè)有一滑槽，對(duì)應(yīng)的第二支撐柱的底部能夠滑動(dòng)地收容于該滑槽內(nèi)，每一第一支撐柱的側(cè)壁設(shè)有一螺孔，螺絲穿過第一支撐柱的螺孔后能夠頂緊對(duì)應(yīng)的第二支撐柱，將第二支撐柱鎖固。?

該閃存芯片測(cè)試架可同時(shí)測(cè)試多個(gè)閃存芯片，第一測(cè)試板與第二測(cè)試板位于不同的高度，使得連接于第一測(cè)試板與第二測(cè)試板的線纜可以分隔開，不會(huì)雜亂的混在一起，方便操作與整理。?

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型閃存芯片測(cè)試架的較佳實(shí)施方式的立體圖。?

圖2是圖1中II部分的放大圖。?