[實用新型]用于測量泰伯效應特性的實驗裝置有效

申請號：	201420495232.4	申請日：	2014-08-29
公開（公告）號：	CN204315149U	公開（公告）日：	2015-05-06
發明（設計）人：	張姝	申請（專利權）人：	天津港東科技發展股份有限公司
主分類號：	G09B23/22	分類號：	G09B23/22
代理公司：	天津市三利專利商標代理有限公司 12107	代理人：	李文洋
地址：	300384 天津市南開***	國省代碼：	天津;12
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摘要：
搜索關鍵詞：	用于測量效應特性實驗裝置
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【權利要求書】：

1.一種用于測量泰伯效應特性的實驗裝置，其特征在于，包括激光器、空間光調制器、CCD圖像采集系統、圖像采集卡以及計算機，所述激光器、空間調制器、CCD圖像采集系統分別與實驗導軌滑動連接，所述圖像采集卡的輸入端與所述CCD圖像采集系統的輸出信號端連接，所述圖像采集卡的輸出端與所述計算機的輸入信號端連接。

2.根據權利要求1所述的用于測量泰伯效應特性的實驗裝置，其特征在于：所述空間光調制器包括起偏器、液晶光閥、檢偏器以及控制電箱，所述起偏器、液晶光閥、檢偏器分別與所述實驗導軌滑動連接，所述起偏器與所述檢偏器透光偏振方向相互垂直，所述液晶光閥與所述控制電箱連接。

3.根據權利要求1所述的用于測量泰伯效應特性的實驗裝置，其特征在于：所述實驗導軌的長度方向設有刻度。

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