[實(shí)用新型]太赫茲安檢設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420492457.4
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN204154908U
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫金海;張少華;蔡禾;鄭巖
• 申請（專利權(quán)）人: 北京環(huán)境特性研究所
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10
• 代理公司: 北京君恒知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11466
• 代理人: 林月俊;黃啟行

1.一種太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，包括：

柜體，其包括光學(xué)柜和輔助柜，光學(xué)柜具有開合式頂蓋并以水平的非金屬板與下方的輔助柜隔開，輔助柜內(nèi)通過隔板分為上、中、下空間；

光學(xué)系統(tǒng)，其設(shè)置在光學(xué)柜中，包括太赫茲波發(fā)射組件、傳輸組件、接收組件；

輔助系統(tǒng)，其連接光學(xué)系統(tǒng)，并包括：分別置于中、下空間內(nèi)的鎖相放大器和平移臺控制器；和置于上空間內(nèi)的激光控制器和電源；

用于指示環(huán)境溫度和濕度的溫濕度顯示窗口，其設(shè)置在光學(xué)柜正面；

檢測空間，其設(shè)置在光學(xué)柜中并具有處于光學(xué)柜背面的以活門開關(guān)的檢測入口；

樣品組件，其樣品端經(jīng)由檢測入口進(jìn)入檢測空間；

氮?dú)獬錃饪冢湓O(shè)置在光學(xué)柜側(cè)壁上并選擇性地連通到檢測空間；

腳輪，其安裝在柜體的底部。

2.如權(quán)利要求1所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述光學(xué)柜的開合式頂蓋的外表面上設(shè)置有把手。

3.如權(quán)利要求1所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述柜體的側(cè)壁上設(shè)置有外部設(shè)備接口、外電源接口、通信接口中的至少一種。

4.如權(quán)利要求1所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述柜體的底部設(shè)置有多個(gè)支腳。

5.如權(quán)利要求1所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述柜體通過方鋼管和角鋼構(gòu)造而成。

6.如權(quán)利要求1所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述光學(xué)柜的開合式頂蓋的邊緣或所述光學(xué)柜的頂部開口的邊緣設(shè)置有密封條；

和/或

所述非金屬板與所述輔助柜的頂邊緣之間設(shè)置有密封條。

7.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述光學(xué)系統(tǒng)包括：自平衡探測器或差分電路。

8.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述樣品組件的樣品端包括由聚乙烯材料制成的樣品臺或樣品架或樣品夾。

9.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述樣品組件包括：底座、設(shè)置在所述底座上的導(dǎo)軌、和被可滑動地安裝在所述導(dǎo)軌上的支桿，所述樣品組件的樣品端安置在所述支桿的自由端上并隨所述支桿沿著所述導(dǎo)軌運(yùn)動而經(jīng)由所述檢測入口進(jìn)入所述檢測空間。

10.如權(quán)利要求9所述的太赫茲安檢設(shè)備，其特征在于，

所述樣品組件包括：定位磁鐵，其位于所述導(dǎo)軌的尾端。