[實用新型]磁致伸縮導波傳感器及含有傳感器的換熱管缺陷檢測系統有效
| 申請號: | 201420492407.6 | 申請日: | 2014-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN204129008U | 公開(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發明(設計)人: | 武新軍;汪玉剛;孫鵬飛 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/34;G01N29/24 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 伸縮 導波 傳感器 含有 熱管 缺陷 檢測 系統 | ||
1.用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:包括外殼(5),所述外殼(5)整體呈圓柱形,外殼(5)的外側壁上設置有第一環形布線槽和第二環形布線槽,所述第一環形布線槽和第二環形布線槽內分別放置有激勵線圈(7)和接收線圈(11),激勵線圈(7)和接收線圈(11)均為螺線管線圈,外殼(5)內腔在對應于激勵線圈(7)和接收線圈(11)的位置分別放置有激勵磁鐵(6)和接收磁鐵(10),所述激勵磁鐵(6)和接收磁鐵(10)均為釤鈷永久磁鐵,所述激勵磁鐵(6)和接收磁鐵(10)均呈圓柱形且極化軸線均平行于外殼(5)的軸線,外殼(5)的一端連接有插頭連接座(4),插頭連接座(4)上連接有激勵插頭(2)和接收插頭(1),激勵插頭(2)通過激勵導線與激勵線圈(7)相連接,接收插頭(1)通過接收導線與接收線圈(11)相連接,激勵插頭(2)和接收插頭(1)均安裝在插頭連接座(4)遠離外殼(5)的一側。
2.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述激勵磁鐵(6)和接收磁鐵(10)之間設置有中間定位件(9),中間定位件(9)位于外殼(5)內且其兩端分別與激勵磁鐵(6)和接收磁鐵(10)相抵接。
3.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述外殼(5)遠離插頭連接座(4)的一端安裝有端部定位件(12),所述端部定位件(12)的一端伸入外殼(5)內與接收磁鐵(10)相抵接。
4.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述插頭連接座(4)靠近外殼(5)的一側延伸有柱臺(20),所述柱臺(20)伸入外殼(5)內部并與激勵磁鐵(6)相抵接,柱臺(20)上設置有便于激勵導線和接收導線穿過柱臺(20)的走線孔(21)。
5.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述插頭連接座(4)包括箱體(23)和蓋在箱體(23)上蓋板(3),所述激勵插頭(2)和接收插頭(1)均安裝在蓋板(3)上。
6.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述外殼(5)、端部定位件(12)、中部定位件(9)和插頭連接座(4)均由絕緣材料制成。
7.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述外殼(5)上設置有便于激勵導線和接收導線走線的走線長槽,所述第一環形布線槽、第二環形布線槽和走線長槽內均灌封有環氧樹脂(8)。
8.根據權利要求1所述的用于換熱管缺陷檢測的磁致伸縮導波傳感器,其特征在于:所述激勵磁鐵(6)的長度為激勵線圈(7)的寬度的兩倍以上,所述接收磁鐵(10)的長度為接收線圈(11)的寬度的兩倍以上。
9.換熱管缺陷檢測系統,其特征在于:包括權利要求1~8中任一權利要求所述的磁致伸縮導波傳感器;
所述磁致伸縮導波傳感器的激勵插頭(2)上連接有功率放大器(15),所述功率放大器(15)上連接有信號發生器(16),信號發生器(16)上連接有計算機(17),計算機(17)控制信號發生器(16)產生正弦脈沖電流信號,電流信號經過功率放大器(15)放大后輸入到激勵線圈(7),激勵磁鐵(6)在換熱管(14)中產生沿管道軸向的靜態磁場,激勵線圈(7)在換熱管(14)中產生沿管道軸向的交變磁場,通過磁致伸縮效應,從而直接在換熱管(14)內激勵產生沿著換熱管(14)軸向傳播的縱向模態超聲導波;
計算機(17)上連接有A/D轉換器(18),所述A/D轉換器(18)上連接有濾波放大器(19),所述濾波放大器(19)與磁致伸縮導波傳感器的接收插頭(1)相連接,縱向模態超聲導波經換熱管(14)反射后,反射回波經過接收線圈(11)時,通過逆磁致伸縮效應,引起接收線圈(11)感應電壓的變化,產生電信號,此電信號經過濾波放大器(19)和A/D轉換器(18)后被計算機(17)接收獲得信號波形圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華中科技大學,未經華中科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201420492407.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于硅烷色譜分析的采樣系統
- 下一篇:基于磁致伸縮導波的檢測傳感器及檢測系統





