[實用新型]電子元件檢測分選的搬送裝置

有效

• 申請號: 201420491182.2
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN204074541U
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 郭明宗
• 申請（專利權）人: 萬潤科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳亮

1.一種電子元件檢測分選的搬送裝置，包括：?

一輸送機構，以一輸送槽道的輸送路徑，待測元件被輸送槽道被從一輸送口送出；?

一入料機構，將從輸送口推出的待測元件進行移送；?

一轉向機構，以一移載部承接入料機構所移送來的待測元件，并將移載部中的待測元件旋轉一角度；?

一測盤，承接轉向機構的移載部移出的待測元件，待測元件于測盤的容置空間中被定位、搬送。?

2.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該輸送機構的輸送槽道的輸送路徑與測盤中心及轉向機構中心間的連線約略平行。?

3.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該輸送機構的輸送槽道的輸送路徑與轉向機構中心間保持一大于轉向機構半徑的間距，而呈與轉向機構外圓周幾近相切的之狀態。?

4.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被從輸送口送出時，恰位于轉向機構的移載部一朝外開口及入料機構前方。?

5.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被從輸送口送出時，以其長側邊對應移載部朝外的一開口。?

6.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被入料機構以待測元件的一長側邊自一開口進入移載部，而以長側邊貼靠移載部的一底側邊定位。?

7.如權利要求1所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該轉向機構旋轉九十度，將移載部中的待測元件旋轉搬送至測盤中心及轉向機構中心連線間的入料路徑上，載有待測元件的移載部開口對應測盤的容置空間的開口。?

8.一種電子元件檢測分選的搬送裝置，包括：?

一輸送機構，設有一輸送槽道，其以一輸送路徑使待測元件被輸送槽道從一輸送口送出；?

一入料機構，將從該輸送機構的輸送口推出的待測元件進行移送；?

一測盤，設有容置空間承接入料機構移送的待測元件，其于測盤的容置空間中被定位、搬送。?

9.如權利要求8所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該輸送機構的輸送槽道的輸送路徑與測盤中心保持一大于測盤半徑的間距，而呈與測盤外圓周幾近相切的狀態。?

10.如權利要求8所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被從輸送口送出時，恰位于測盤的容置空間朝外的開口及入料機構前方。?

11.如權利要求8所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被從輸送口送出時，以其長側邊對應容置空間朝外的一開口。?

12.如權利要求8所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被入料機構以待測元件的一長側邊自一開口進入容置空間，而以長側邊貼靠容置空間的一底側邊定位。?

13.如權利要求1或8任一項所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被以長側邊平行輸送槽道輸送方向的方式被從輸送口送出。?

14.如權利要求1或8任一項所述電子元件檢測分選的搬送裝置，其特征在于，該待測元件被入料機構以待測元件的一長側邊自一開口進入測盤的容置空間，而以長側邊貼靠容置空間的一底側邊定位。?

15.一種電子元件檢測分選的搬送裝置，包括：?

一輸送槽道，待測元件以第一搬送路徑從一輸送口送出時維持一第一置設方向；?

一測盤，設有容置空間，待測元件在維持一第一置設方向下，被以垂直第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被移送，而自一開口進入測盤的容置空間。?

16.一種電子元件檢測分選的搬送裝置，包括：?

一輸送槽道，待測元件以第一搬送路徑從一輸送口送出時維持一第一置設方向；?

一轉向機構，使從該輸送槽道的輸送口送出的待測元件被轉向而呈一第二置設方向；?

一測盤，設有容置空間以一開口承接自轉向機構被以平行第一搬送路徑方向的第二搬送路徑移送來的待測元件。?