[實用新型]用于測量折射率的光學系統及一種小型折射率測量裝置

有效

• 申請號: 201420472561.7
• 申請日: 2014-08-20
• 公開（公告）號: CN204028001U
• 公開（公告）日: 2014-12-17
• 發明（設計）人: 馬玉峰
• 申請（專利權）人: 北京領航力嘉機電有限公司
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 李敏

1.一種用于測量折射率的光學系統，其特征在于，包括：

光學棱鏡，其包括第一面、第二面和第三面，所述第三面與所述第二面垂直設置，所述第一面與所述第二面中垂線間的夾角為銳角，且所述第二面上成型有測量凸臺，所述測量凸臺與被測物體接觸；

光源，設置于所述光學棱鏡的一側，且所述光源發出的第一光線通過所述第一面入射至所述光學棱鏡的測量凸臺與被測物體的分界面；

光電傳感器，與所述光源位于所述光學棱鏡的同一側，接收所述第一光線經所述分界面全反射后通過所述第一面出射的第二光線。

2.根據權利要求1所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于，還包括：

物鏡，設置于所述第一面與所述光電傳感器之間的光學路徑上，且所述物鏡與所述光電傳感器之間的距離等于所述物鏡的焦距。

3.根據權利要求2所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于：

所述物鏡的焦距為20-30mm。

4.根據權利要求1所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于，還包括：

光導纖維，其設置于所述第一面與所述光源之間的光學路徑上，用于將所述光源發出的第一光線傳輸至所述第一面。

5.根據權利要求1所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于：

所述第一面與所述第二面中垂線之間的夾角為45度-60度。

6.根據權利要求1所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于：

所述第二面上成型的所述測量凸臺，為直徑在5-6mm的圓形凸臺。

7.根據權利要求1所述的用于測量折射率的光學系統，其特征在于：

所述第三面內表面鍍覆有反射膜。

8.一種小型折射率測量裝置，其特征在于，包括權利要求1-7任一所述的用于測量折射率的光學系統和處理電路，所述處理電路用于對光源進行控制并對光電傳感器檢測到的信號進行處理；

所述光學系統和所述處理電路封裝于筆式外殼內，所述筆式外殼的長度為140-180mm，所述筆式外殼包括：

第一封裝殼體，用于所述光學系統的封裝，其長度為30-60mm，寬度為10-18mm，高度為10-18mm；所述第一封裝殼體與所述光學系統中測量凸臺相對應的位置設置一進液口，用于被測物體與測量凸臺相接觸；

第二封裝殼體，用于封裝所述處理電路，其長度為100-110mm，寬度為20-25mm，高度為20-25mm，所述第二封裝殼體與所述第一封裝殼體通過連接環套接；

所述第二封裝殼體內還包括用于放置電池的電池倉。

9.根據權利要求8所述的小型折射率測量裝置，其特征在于，所述處理電路中包括藍牙模塊，所述藍牙模塊用于實現所述處理電路與其他終端間的數據傳輸。