[實用新型]晶體振蕩器試驗裝置

有效

• 申請號: 201420461171.X
• 申請日: 2014-08-15
• 公開（公告）號: CN204028255U
• 公開（公告）日: 2014-12-17
• 發明（設計）人: 曹驥;吳福銘
• 申請（專利權）人: 杭州可靠性儀器廠
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 杭州天正專利事務所有限公司 33201
• 代理人: 王兵;黃美娟

1.晶體振蕩器試驗裝置，包括高溫試驗箱、測試板、控制板、監測儀表以及試驗電源，所述的測試板上安裝有被試晶體振蕩器，所述的測試板位于高溫試驗箱內，所述的控制板位于控制腔內，所述的測試板與所述的控制板連接，所述的監測儀表與所述的控制板連接，所述的控制板與所述的試驗電源的輸出端電連接，其特征在于：還包括高頻吸收回路，所述的控制板包括試驗電壓控制板和信號傳輸陣列控制板，所述的試驗電壓控制板和信號傳輸陣列控制板之間設置有所述的高頻吸收回路，所述的試驗電壓控制板與所述的高頻吸收回路的輸入端連接，所述的高頻吸收回路的輸出端與所述的被試晶體振蕩器連接，所述的被試晶體振蕩器與所述的信號傳輸陣列控制板連接，所述的信號傳輸陣列控制板與所述的監測儀表連接。

2.如權利要求1所述的晶體振蕩器試驗裝置，其特征在于：所述的試驗電源、試驗電壓控制板、信號傳輸陣列控制板以及監測儀表均連接一控制器。

3.如權利要求1或2所述的晶體振蕩器試驗裝置，其特征在于：所述的測試板通過對接組件與所述的控制板連接。